Ga door naar de inhoud
VuFind
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文（繁體）
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
Čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
Hrvatski
हिंदी
Հայերէն
Українська
Sámegiella
Монгол
Taal
Alle velden
Titel
Auteur
Onderwerp
Plaatsingsnummer
ISBN/ISSN
Tag
Zoek
Geavanceerd
ELECTRON CHANNELING CONTRAST I...
Citeren
SMS dit
Versturen
Afdrukken
Exporteer Record
Exporteer naar RefWorks
Exporteer naar EndNoteWeb
Exporteer naar EndNote
Permalink
ELECTRON CHANNELING CONTRAST IMAGING (ECCI) OF DISLOCATIONS IN BULK SPECIMENS
Bibliografische gegevens
Hoofdauteurs:
Czernuszka, J
,
Long, N
,
Boyes, E
,
Hirsch, P
Formaat:
Conference item
Gepubliceerd in:
1991
Exemplaren
Omschrijving
Gelijkaardige items
Personeel
Gelijkaardige items
Characterizing dislocation structures in bulk fatigued copper single crystals using electron channelling contrast imaging (ECCI)
door: Ahmed, J, et al.
Gepubliceerd in: (1997)
Study of dislocation structures near fatigue cracks using electron channelling contrast imaging technique (ECCI).
door: Ahmed, J, et al.
Gepubliceerd in: (1999)
ANALYSIS OF DEFECTS IN BULK SEMICONDUCTORS USING ELECTRON CHANNELING CONTRAST IMAGING
door: Czernuszka, J, et al.
Gepubliceerd in: (1991)
ANALYSIS OF DEFECTS IN BULK SEMICONDUCTORS USING ELECTRON CHANNELING CONTRAST IMAGING
door: Czernuszka, J, et al.
Gepubliceerd in: (1991)
Effects of surface relaxation on electron channelling contrast images of misfit dislocations
door: Wilkinson, A, et al.
Gepubliceerd in: (1994)