Przejdź do treści
VuFind
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文(繁體)
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
Čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
Hrvatski
हिंदी
Հայերէն
Українська
Sámegiella
Монгол
Język
Wszystkie pola
Tytuł
Autor
Hasło przedmiotowe
Sygnatura
ISBN / ISSN
Etykieta
Szukaj
Wyszukiwanie zaawansowane
FIELD-ION MICROSCOPY AND ATOM...
Cytować
Wyślij wiadomość
Wyślij emailem
Drukuj
Eksportuj rekord
Eksportuj do RefWorks
Eksportuj do EndNoteWeb
Eksportuj do EndNote
Odnośnik bezpośredni
FIELD-ION MICROSCOPY AND ATOM PROBE MICROANALYSIS OF VANADIUM
Opis bibliograficzny
Główni autorzy:
Godfrey, T
,
Setna, R
,
Smith, G
Format:
Journal article
Wydane:
1989
Egzemplarz
Opis
Podobne zapisy
Wersja MARC
Podobne zapisy
FIELD-ION MICROSCOPY AND ATOM PROBE MICROANALYSIS OF SEMICONDUCTOR-MATERIALS
od: Grovenor, C, i wsp.
Wydane: (1983)
RECENT DEVELOPMENTS IN POSITION-SENSITIVE ATOM-PROBE MICROANALYSIS
od: Smith, G, i wsp.
Wydane: (1994)
A FIM ATOM PROBE STUDY OF VANADIUM OXIDATION
od: Setna, R, i wsp.
Wydane: (1989)
FIELD-ION MICROSCOPY AND ATOM PROBE MICROANALYSIS OF NB3SN WIRES
od: Rose, J, i wsp.
Wydane: (1986)
Some recent advances in three dimensional atomic scale microanalysis with the atom probe (invited)
od: Cerezo, A, i wsp.
Wydane: (1994)