Skip to content
VuFind
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文(繁體)
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
Čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
Hrvatski
हिंदी
Հայերէն
Українська
Sámegiella
Монгол
Sprog
Alle Felter
Titel
Forfatter
Fag
Klassifikationsnummer
ISBN/ISSN
Tag
Find
Udvidet
FIELD-ION MICROSCOPY AND ATOM...
Citér dette
Stav dette
Email dette
Udskriv
Eksportér post
Eksportér til RefWorks
Eksportér til EndNoteWeb
Eksportér til EndNote
Permanent link
FIELD-ION MICROSCOPY AND ATOM PROBE MICROANALYSIS OF VANADIUM
Bibliografiske detaljer
Main Authors:
Godfrey, T
,
Setna, R
,
Smith, G
Format:
Journal article
Udgivet:
1989
Beholdninger
Beskrivelse
Lignende værker
Medarbejdervisning
Lignende værker
FIELD-ION MICROSCOPY AND ATOM PROBE MICROANALYSIS OF SEMICONDUCTOR-MATERIALS
af: Grovenor, C, et al.
Udgivet: (1983)
RECENT DEVELOPMENTS IN POSITION-SENSITIVE ATOM-PROBE MICROANALYSIS
af: Smith, G, et al.
Udgivet: (1994)
A FIM ATOM PROBE STUDY OF VANADIUM OXIDATION
af: Setna, R, et al.
Udgivet: (1989)
FIELD-ION MICROSCOPY AND ATOM PROBE MICROANALYSIS OF NB3SN WIRES
af: Rose, J, et al.
Udgivet: (1986)
Some recent advances in three dimensional atomic scale microanalysis with the atom probe (invited)
af: Cerezo, A, et al.
Udgivet: (1994)