Saltar ao contenido
VuFind
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文（繁體）
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
Čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
Hrvatski
हिंदी
Հայերէն
Українська
Sámegiella
Монгол
Idioma
Todos os campos
Title
Autor
Subject
Número de Clasificación
ISBN/ISSN
Tag
Buscar
Avanzado
FIELD-ION MICROSCOPY AND ATOM...
Citar
Text this
Enviar este rexistro por email
Imprimir
Exportar rexistro
Exportar a RefWorks
Exportar a EndNoteWeb
Exportar a EndNote
Permanent link
FIELD-ION MICROSCOPY AND ATOM PROBE MICROANALYSIS OF VANADIUM
Detalles Bibliográficos
Main Authors:
Godfrey, T
,
Setna, R
,
Smith, G
Formato:
Journal article
Publicado:
1989
Existencias
Descripción
Títulos similares
Staff View
Títulos similares
FIELD-ION MICROSCOPY AND ATOM PROBE MICROANALYSIS OF SEMICONDUCTOR-MATERIALS
por: Grovenor, C, et al.
Publicado: (1983)
RECENT DEVELOPMENTS IN POSITION-SENSITIVE ATOM-PROBE MICROANALYSIS
por: Smith, G, et al.
Publicado: (1994)
A FIM ATOM PROBE STUDY OF VANADIUM OXIDATION
por: Setna, R, et al.
Publicado: (1989)
FIELD-ION MICROSCOPY AND ATOM PROBE MICROANALYSIS OF NB3SN WIRES
por: Rose, J, et al.
Publicado: (1986)
Some recent advances in three dimensional atomic scale microanalysis with the atom probe (invited)
por: Cerezo, A, et al.
Publicado: (1994)