توثيق جمعية علم النفس الأمريكية APA (الطبعة السابعة)

Czernuszka, J., Long, N., & Hirsch, P. (1991). ANALYSIS OF DEFECTS IN BULK SEMICONDUCTORS USING ELECTRON CHANNELING CONTRAST IMAGING.

توثيق أسلوب شيكاغو (الطبعة السابعة عشر)

Czernuszka, J., N. Long, و P. Hirsch. ANALYSIS OF DEFECTS IN BULK SEMICONDUCTORS USING ELECTRON CHANNELING CONTRAST IMAGING. 1991.

توثيق جمعية اللغة المعاصرة MLA (الإصدار التاسع)

Czernuszka, J., et al. ANALYSIS OF DEFECTS IN BULK SEMICONDUCTORS USING ELECTRON CHANNELING CONTRAST IMAGING. 1991.