Citace podle APA (7th ed.)

Czernuszka, J., Long, N., & Hirsch, P. (1991). ANALYSIS OF DEFECTS IN BULK SEMICONDUCTORS USING ELECTRON CHANNELING CONTRAST IMAGING.

Citace podle Chicago (17th ed.)

Czernuszka, J., N. Long, a P. Hirsch. ANALYSIS OF DEFECTS IN BULK SEMICONDUCTORS USING ELECTRON CHANNELING CONTRAST IMAGING. 1991.

Citace podle MLA (9th ed.)

Czernuszka, J., et al. ANALYSIS OF DEFECTS IN BULK SEMICONDUCTORS USING ELECTRON CHANNELING CONTRAST IMAGING. 1991.

Upozornění: Tyto citace jsou generovány automaticky. Nemusí být zcela správně podle citačních pravidel..