Czernuszka, J., Long, N., & Hirsch, P. (1991). ANALYSIS OF DEFECTS IN BULK SEMICONDUCTORS USING ELECTRON CHANNELING CONTRAST IMAGING.
Trích dẫn kiểu Chicago (xuất bản lần thứ 7)Czernuszka, J., N. Long, và P. Hirsch. ANALYSIS OF DEFECTS IN BULK SEMICONDUCTORS USING ELECTRON CHANNELING CONTRAST IMAGING. 1991.
Trích dẫn kiểu MLA (xuất bản lần thứ 9)Czernuszka, J., et al. ANALYSIS OF DEFECTS IN BULK SEMICONDUCTORS USING ELECTRON CHANNELING CONTRAST IMAGING. 1991.
Cảnh báo: Các trích dẫn này có thể không phải lúc nào cũng chính xác 100%.