ANALYSIS OF DEFECTS IN BULK SEMICONDUCTORS USING ELECTRON CHANNELING CONTRAST IMAGING

ANALYSIS OF DEFECTS IN BULK SEMICONDUCTORS USING ELECTRON CHANNELING CONTRAST IMAGING

Ցույց տալ այլ տարբերակներ (1)
Մատենագիտական մանրամասներ
Հիմնական հեղինակներ: Czernuszka, J, Long, N, Hirsch, P
Ձևաչափ: Journal article
Հրապարակվել է: 1991
Ցույց տալ բոլոր տարբերակները (2)

Նմանատիպ նյութեր