Skip to content
VuFind
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文（繁體）
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
Čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
Hrvatski
हिंदी
Հայերէն
Українська
Sámegiella
Монгол
Sprog
Alle Felter
Titel
Forfatter
Fag
Klassifikationsnummer
ISBN/ISSN
Tag
Find
Udvidet
ANALYSIS OF DEFECTS IN BULK SE...
Citér dette
Stav dette
Email dette
Udskriv
Eksportér post
Eksportér til RefWorks
Eksportér til EndNoteWeb
Eksportér til EndNote
Permanent link
ANALYSIS OF DEFECTS IN BULK SEMICONDUCTORS USING ELECTRON CHANNELING CONTRAST IMAGING
Show other versions (1)
Bibliografiske detaljer
Main Authors:
Czernuszka, J
,
Long, N
,
Hirsch, P
Format:
Journal article
Udgivet:
1991
Beholdninger
Beskrivelse
Other Versions (1)
Lignende værker
Medarbejdervisning
Lignende værker
ANALYSIS OF DEFECTS IN BULK SEMICONDUCTORS USING ELECTRON CHANNELING CONTRAST IMAGING
af: Czernuszka, J, et al.
Udgivet: (1991)
ELECTRON CHANNELING CONTRAST IMAGING OF DEFECTS IN SEMICONDUCTORS
af: Wilkinson, A, et al.
Udgivet: (1993)
ELECTRON CHANNELING CONTRAST IMAGING (ECCI) OF DISLOCATIONS IN BULK SPECIMENS
af: Czernuszka, J, et al.
Udgivet: (1991)
ELECTRON CHANNELING CONTRAST IMAGING OF INTERFACIAL DEFECTS IN STRAINED SILICON-GERMANIUM LAYERS ON SILICON
af: Wilkinson, A, et al.
Udgivet: (1993)
Effects of surface relaxation on electron channelling contrast images of misfit dislocations
af: Wilkinson, A, et al.
Udgivet: (1994)