Μετάβαση στο περιεχόμενο
VuFind
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文（繁體）
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
Čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
Hrvatski
हिंदी
Հայերէն
Українська
Sámegiella
Монгол
Γλώσσα
Όλα τα πεδία
Τίτλος
Συγγραφέας
Θέμα
Ταξιθετικός Αριθμός
ISBN/ISSN
Ετικέτα
Αναζήτηση
Σύνθετη
ANALYSIS OF DEFECTS IN BULK SE...
Εμφάνιση παραπομπής
Αποστολή με SMS
Αποστολή με email
Εκτύπωση
Αποθήκευση
Αποθήκευση σε RefWorks
Αποθήκευση σε EndNoteWeb
Αποθήκευση σε EndNote
Μόνιμος σύνδεσμος
ANALYSIS OF DEFECTS IN BULK SEMICONDUCTORS USING ELECTRON CHANNELING CONTRAST IMAGING
Εμφάνιση άλλων εκδόσεων (1)
Λεπτομέρειες βιβλιογραφικής εγγραφής
Κύριοι συγγραφείς:
Czernuszka, J
,
Long, N
,
Hirsch, P
Μορφή:
Journal article
Έκδοση:
1991
Τεκμήρια
Περιγραφή
Άλλες εκδόσεις (1)
Παρόμοια τεκμήρια
Λεπτομερής προβολή
Παρόμοια τεκμήρια
ANALYSIS OF DEFECTS IN BULK SEMICONDUCTORS USING ELECTRON CHANNELING CONTRAST IMAGING
ανά: Czernuszka, J, κ.ά.
Έκδοση: (1991)
ELECTRON CHANNELING CONTRAST IMAGING OF DEFECTS IN SEMICONDUCTORS
ανά: Wilkinson, A, κ.ά.
Έκδοση: (1993)
ELECTRON CHANNELING CONTRAST IMAGING (ECCI) OF DISLOCATIONS IN BULK SPECIMENS
ανά: Czernuszka, J, κ.ά.
Έκδοση: (1991)
ELECTRON CHANNELING CONTRAST IMAGING OF INTERFACIAL DEFECTS IN STRAINED SILICON-GERMANIUM LAYERS ON SILICON
ανά: Wilkinson, A, κ.ά.
Έκδοση: (1993)
Effects of surface relaxation on electron channelling contrast images of misfit dislocations
ανά: Wilkinson, A, κ.ά.
Έκδοση: (1994)