Hoppa till innehåll
VuFind
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文（繁體）
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
Čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
Hrvatski
हिंदी
Հայերէն
Українська
Sámegiella
Монгол
Språk
Alla fält
Titel
Upphovsman
Ämne
Signum
ISBN/ISSN
Tagg
Sök
Avancerad
ANALYSIS OF DEFECTS IN BULK SE...
Hänvisa
Textmeddelande
Skicka per e-post
Skriv ut
Exportera posten
Exportera till: RefWorks
Exportera till: EndNoteWeb
Exportera till: EndNote
Permanent länk
ANALYSIS OF DEFECTS IN BULK SEMICONDUCTORS USING ELECTRON CHANNELING CONTRAST IMAGING
Visa andra versioner (1)
Bibliografiska uppgifter
Huvudupphovsmän:
Czernuszka, J
,
Long, N
,
Hirsch, P
Materialtyp:
Journal article
Publicerad:
1991
Beståndsuppgifter
Beskrivning
Andra versioner (1)
Liknande verk
Katalogiseringsuppgifter
Liknande verk
ANALYSIS OF DEFECTS IN BULK SEMICONDUCTORS USING ELECTRON CHANNELING CONTRAST IMAGING
av: Czernuszka, J, et al.
Publicerad: (1991)
ELECTRON CHANNELING CONTRAST IMAGING OF DEFECTS IN SEMICONDUCTORS
av: Wilkinson, A, et al.
Publicerad: (1993)
ELECTRON CHANNELING CONTRAST IMAGING (ECCI) OF DISLOCATIONS IN BULK SPECIMENS
av: Czernuszka, J, et al.
Publicerad: (1991)
ELECTRON CHANNELING CONTRAST IMAGING OF INTERFACIAL DEFECTS IN STRAINED SILICON-GERMANIUM LAYERS ON SILICON
av: Wilkinson, A, et al.
Publicerad: (1993)
Effects of surface relaxation on electron channelling contrast images of misfit dislocations
av: Wilkinson, A, et al.
Publicerad: (1994)