$Electron backscatter diffraction: An important tool for analyses of structure-property relationships in thin-film solar cells$

Electron backscatter diffraction: An important tool for analyses of structure-property relationships in thin-film solar cells

Ցույց տալ այլ տարբերակներ (1)

The present work gives an overview of the application of electron backscatter diffraction (EBSD) in the field of thin-film solar cells, which consist of stacks of polycrystalline layers on various rigid or flexible substrates. EBSD provides access to grain-size and local-orientation distributions, f...

Ամբողջական նկարագրություն

Մատենագիտական մանրամասներ
Հիմնական հեղինակներ:	Abou-Ras, D, Kavalakkatt, J, Nichterwitz, M, Schäfer, N, Harndt, S, Wilkinson, A, Tsyrulin, K, Schulz, H, Bauer, F
Ձևաչափ:	Journal article
Լեզու:	English
Հրապարակվել է:	2013

Նմանատիպ նյութեր

Electron Backscatter Diffraction: An Important Tool for Analyses of Structure-Property Relationships in Thin-Film Solar Cells
‌: Abou-Ras, D, և այլն
Հրապարակվել է: (2013)

Microstrain distribution mapping on CuInSe2 thin films by means of electron backscatter diffraction, X-ray diffraction, and Raman microspectroscopy.
‌: Schäfer, N, և այլն
Հրապարակվել է: (2016)

Characterization of nitride thin films by electron backscatter diffraction and electron channeling contrast imaging
‌: Trager-Cowan, C, և այլն
Հրապարակվել է: (2006)

Characterisation of nitride thin films by electron backscatter diffraction and electron channelling contrast imaging
‌: Trager-Cowan, C, և այլն
Հրապարակվել է: (2006)

Electron backscatter diffraction and electron channeling contrast imaging of tilt and dislocations in nitride thin films
‌: Trager-Cowan, C, և այլն
Հրապարակվել է: (2007)

Strain mapping using electron backscatter diffraction
‌: Wilkinson, A, և այլն
Հրապարակվել է: (2009)

Direct detection of electron backscatter diffraction patterns.
‌: Wilkinson, A, և այլն
Հրապարակվել է: (2013)

Microstrain distributions in polycrystalline thin film measured by X-ray microdiffraction
‌: Wilkinson, A, և այլն
Հրապարակվել է: (2016)

Advanced Characterization Techniques for Thin Film Solar Cells /
‌: Rau, Uwe, editor 522108, և այլն
Հրապարակվել է: (2011)

Measurement of plastic strain of polycrystalline material by electron backscatter diffraction
‌: Kamaya, M, և այլն
Հրապարակվել է: (2005)

High-resolution electron backscatter diffraction: an emerging tool for studying local deformation
‌: Wilkinson, A, և այլն
Հրապարակվել է: (2010)

High resolution mapping of strains and rotations using electron backscatter diffraction
‌: Wilkinson, A, և այլն
Հրապարակվել է: (2013)

High resolution mapping of strains and rotations using electron backscatter diffraction
‌: Wilkinson, A, և այլն
Հրապարակվել է: (2006)

Electron backscatter diffraction in the silicon nanowires
‌: K.K. Dikhanbayev, և այլն
Հրապարակվել է: (2016-10-01)

Electron backscatter diffraction in materials characterization
‌: Dejan Stojakovic
Հրապարակվել է: (2012-03-01)

Elastic strain tensor measurement using electron backscatter diffraction in the SEM.
‌: Dingley, D, և այլն
Հրապարակվել է: (2010)

Methods for determining elastic strains from electron backscatter diffraction and electron channelling patterns
‌: Wilkinson, A
Հրապարակվել է: (1997)

Analysis of dislocation densities using high resolution electron backscatter diffraction
‌: Vilalta-Clemente, A, և այլն
Հրապարակվել է: (2015)

Quantification of plastic strain of stainless steel and nickel alloy by electron backscatter diffraction
‌: Kamaya, M, և այլն
Հրապարակվել է: (2006)

Cross-correlation based high resolution electron backscatter diffraction and electron channelling contrast imaging for strain mapping and dislocation distributions in InAlN thin films
‌: Wilkinson, A, և այլն
Հրապարակվել է: (2016)

Measurement of residual elastic strain and lattice rotations with high resolution electron backscatter diffraction.
‌: Britton, T, և այլն
Հրապարակվել է: (2011)

High-resolution electron backscatter diffraction in III-nitride semiconductors
‌: Vilalta-Clemente, A, և այլն
Հրապարակվել է: (2015)

The effect of pattern overlap on the accuracy of high resolution electron backscatter diffraction measurements.
‌: Tong, V, և այլն
Հրապարակվել է: (2015)

Tetragonality of Fe-C martensite – a pattern matching electron backscatter diffraction analysis compared to X-ray diffraction
‌: Tanaka, T, և այլն
Հրապարակվել է: (2020)

Applications of multivariate statistical methods and simulation libraries to analysis of electron backscatter diffraction and transmission Kikuchi diffraction datasets
‌: Wilkinson, A, և այլն
Հրապարակվել է: (2018)

High resolution measurements of strain and tilt distributions in SiGe mesas using electron backscatter diffraction
‌: Wilkinson, A
Հրապարակվել է: (2006)

High resolution measurements of strain and tilt distributions in SiGe mesas using electron backscatter diffraction
‌: Wilkinson, A
Հրապարակվել է: (2006)

High-angular resolution electron backscatter diffraction as a new tool for mapping lattice distortion in geological minerals
‌: Wallis, D, և այլն
Հրապարակվել է: (2019)

High resolution electron backscatter diffraction measurements of elastic strain variations in the presence of larger lattice rotations.
‌: Britton, T, և այլն
Հրապարակվել է: (2012)

Rapid electron backscatter diffraction mapping: painting by numbers
‌: Tong, V, և այլն
Հրապարակվել է: (2018)

Application of Electron Backscatter Diffraction to Calcite-Twinning Paleopiezometry
‌: Ernest Rutter, և այլն
Հրապարակվել է: (2022-05-01)

An iterative method for reference pattern selection in high-resolution electron backscatter diffraction (HR-EBSD)
‌: Koko, A, և այլն
Հրապարակվել է: (2023)

Measurement of fatigue crack plastic zones in fine grained materials using electron backscattered diffraction
‌: Tucker, A, և այլն
Հրապարակվել է: (2000)

Measurement of fatigue crack plastic zones in fine grained materials using electron backscattered diffraction
‌: Tucker, A, և այլն
Հրապարակվել է: (2000)

High-resolution elastic strain measurement from electron backscatter diffraction patterns: new levels of sensitivity.
‌: Wilkinson, A, և այլն
Հրապարակվել է: (2006)

Assessing the precision of strain measurements using electron backscatter diffraction--part 1: detector assessment.
‌: Britton, T, և այլն
Հրապարակվել է: (2013)

Assessing the precision of strain measurements using electron backscatter diffraction--part 2: experimental demonstration.
‌: Britton, T, և այլն
Հրապարակվել է: (2013)

Assessing the precision of strain measurements using electron backscatter diffraction - part 1: Detector assessment
‌: Britton, T, և այլն
Հրապարակվել է: (2013)

Assessing the precision of strain measurements using electron backscatter diffraction - Part 2: Experimental demonstration
‌: Britton, T, և այլն
Հրապարակվել է: (2013)

Probing deformation and revealing microstructural mechanisms with cross-correlation-based, high-resolution electron backscatter diffraction
‌: Britton, T, և այլն
Հրապարակվել է: (2013)