EINZEL LENSES IN ATOM PROBE DESIGNS

EINZEL LENSES IN ATOM PROBE DESIGNS

التفاصيل البيبلوغرافية
المؤلفون الرئيسيون:	Cerezo, A, Miller, M
التنسيق:	Conference item
منشور في:	1991

مواد مشابهة

A Hyperbolic Potential Field Model for Designing an Einzel Lens of Low Aberrations
حسب: Sabah M. Juma
منشور في: (2002-12-01)

Einzel lens chopper and behavior of the chopped beam in the KEK digital accelerator
حسب: K. W. Leo, وآخرون
منشور في: (2013-04-01)

IMPROVEMENTS IN 3-DIMENSIONAL ATOM-PROBE DESIGN
حسب: Cerezo, A, وآخرون
منشور في: (1994)

Design of a scanning atom probe with improved mass resolution
حسب: Cerezo, A, وآخرون
منشور في: (2000)

PULSED LASER ATOM PROBE CHARACTERIZATION OF SILICON-CARBIDE
حسب: Miller, M, وآخرون
منشور في: (1989)

NEW DIMENSIONS IN ATOM-PROBE ANALYSIS
حسب: Cerezo, A, وآخرون
منشور في: (1992)

VISUALIZATION AND ANALYSIS OF 3-DIMENSIONAL ATOM PROBE DATA
حسب: Cerezo, A, وآخرون
منشور في: (1989)

Progress in the atomic-scale analysis of materials with the three-dimensional atom probe
حسب: Cerezo, A, وآخرون
منشور في: (2001)

Studies of boundaries and interfaces on the atomic scale by atom probe FIM
حسب: Smith, G, وآخرون
منشور في: (1998)

THE POSITION-SENSITIVE ATOM PROBE - RECONSTRUCTION OF THE ATOMIC CHEMISTRY OF SOLIDS IN 3-DIMENSIONS (SUMMARY)
حسب: Cerezo, A, وآخرون
منشور في: (1991)

STATISTICAL-ANALYSIS OF ATOM PROBE DATA
حسب: Hetherington, M, وآخرون
منشور في: (1986)

Aspects of the observation of clusters in the 3-dimensional atom probe
حسب: Cerezo, A, وآخرون
منشور في: (2007)

STRUCTURAL-ANALYSIS WITH THE POSITION-SENSITIVE ATOM PROBE
حسب: Hetherington, M, وآخرون
منشور في: (1992)

AN ELECTRONIC AND COMPUTER-SYSTEM FOR AN AUTOMATED ATOM PROBE
حسب: Cerezo, A, وآخرون
منشور في: (1984)

IMPROVEMENTS IN THE TRANSMISSION OF VOLTAGE EVAPORATION PULSES IN THE ATOM-PROBE
حسب: Sijbrandij, S, وآخرون
منشور في: (1995)

ATOM PROBE ANALYSIS AND MODELING OF INTERFACES IN MAGNETIC MULTILAYERS
حسب: Petfordlong, A, وآخرون
منشور في: (1992)

Numerical modelling of mass resolution in a scanning atom probe.
حسب: Cerezo, A, وآخرون
منشور في: (2001)

ATOM PROBE CHARACTERIZATION OF CO TRANSITION-METAL MULTILAYER STRUCTURES
حسب: Cerezo, A, وآخرون
منشور في: (1989)

RECENT DEVELOPMENTS IN THE STUDY OF SEMICONDUCTORS BY ATOM PROBE MICROANALYSIS.
حسب: Grovenor, C, وآخرون
منشور في: (1985)

PULSED LASER ATOM PROBE ANALYSIS OF GAAS AND INAS
حسب: Cerezo, A, وآخرون
منشور في: (1985)

PULSED LASER ATOM PROBE ANALYSIS OF SEMICONDUCTOR-MATERIALS
حسب: Cerezo, A, وآخرون
منشور في: (1986)

Improvements in the mass resolution of the three-dimensional atom probe
حسب: Sijbrandij, S, وآخرون
منشور في: (1996)

Automobile exhaust catalysis at the atomic scale: atom-probe investigations on platinum alloys
حسب: Bagot, P, وآخرون
منشور في: (2007)

ANALYSIS OF DATA FROM AN OPTICAL ATOM-PROBE
حسب: Cooper, A, وآخرون
منشور في: (1994)

SURFACE-ANALYSIS WITH A POSITION-SENSITIVE ATOM PROBE
حسب: Cerezo, A, وآخرون
منشور في: (1989)

DEVELOPMENT AND INITIAL APPLICATIONS OF A POSITION-SENSITIVE ATOM PROBE
حسب: Cerezo, A, وآخرون
منشور في: (1988)

APPLICATION OF A POSITION-SENSITIVE DETECTOR TO ATOM PROBE MICROANALYSIS
حسب: Cerezo, A, وآخرون
منشور في: (1988)

Quantum Spin Lenses in Atomic Arrays
حسب: A. W. Glaetzle, وآخرون
منشور في: (2017-09-01)

Some recent advances in three dimensional atomic scale microanalysis with the atom probe (invited)
حسب: Cerezo, A, وآخرون
منشور في: (1994)

Atom probe tomography today
حسب: Cerezo, A, وآخرون
منشور في: (2007)

Atom probe tomography today
حسب: Cerezo, A, وآخرون
منشور في: (2007)

THE FIM100 - PERFORMANCE OF A COMMERCIAL ATOM PROBE SYSTEM
حسب: Cerezo, A, وآخرون
منشور في: (1984)

A UK Facility for Atom Probe Tomography Analysis
حسب: Marquis, E, وآخرون
منشور في: (2009)

Performance of an energy-compensated three-dimensional atom probe
حسب: Cerezo, A, وآخرون
منشور في: (1998)

ATOM PROBE ANALYSIS OF A CERAMIC OXIDE SUPERCONDUCTOR
حسب: Cerezo, A, وآخرون
منشور في: (1988)

PULSED LASER ATOM PROBE ANALYSIS OF SEMICONDUCTOR-MATERIALS
حسب: Grovenor, C, وآخرون
منشور في: (1987)

Cluster Lensing of QSOs as a Probe of LCDM and Dark Energy Cosmologies
حسب: Lopes, A, وآخرون
منشور في: (2003)

3D atom probe applications: past present and future
حسب: G.D.W. Smith, وآخرون
منشور في: (2005)

Improvement of multilayer analyses with a three-dimensional atom probe
حسب: Vurpillot, F, وآخرون
منشور في: (2004)

FIELD-ION MICROSCOPY AND ATOM PROBE MICROANALYSIS OF SEMICONDUCTOR-MATERIALS
حسب: Grovenor, C, وآخرون
منشور في: (1983)