Quantification of grain boundary equilibrium segregation by NanoSIMS analysis of bulk samples
A technique for the quantification of equilibrium grain boundary segregation by high resolution secondary ion mass spectroscopy (NanoSIMS) on simple metallographically polished surfaces has been demonstrated for the model system of sulphur segregation to nickel grain boundaries. Samples of nickel co...
Автори: | Christien, F, Downing, C, Moore, K, Grovenor, C |
---|---|
Формат: | Journal article |
Мова: | English |
Опубліковано: |
2012
|
Схожі ресурси
Схожі ресурси
-
QUANTITATIVE NANOSIMS ANALYSIS OF GRAIN BOUNDARY SEGREGATION IN BULK SAMPLES
за авторством: Christien, F, та інші
Опубліковано: (2012) -
Quantitative grain boundary analysis of bulk samples by SIMS
за авторством: Christien, F, та інші
Опубліковано: (2013) -
Quantitative grain boundary analysis of bulk samples by SIMS
за авторством: Christien, F, та інші
Опубліковано: (2013) -
NanoSIMS analysis of arsenic and selenium in cereal grain.
за авторством: Moore, K, та інші
Опубліковано: (2010) -
NanoSIMS imaging and analysis in materials science
за авторством: Li, K, та інші
Опубліковано: (2020)