The brittle-ductile transition in silicon. II. interpretation
<p>A dynamic crack tip shielding model has been developed to describe the brittle-ductile transition (BDT) of precracked crystals in constant strain-rate tests. Dislocations are emitted from a discrete number of sources at or near the crack tip. At the BDT the dislocations are anddollar; emitt...
Автори: | Hirsch, P, Roberts, S, Samuels, J |
---|---|
Формат: | Journal article |
Опубліковано: |
Royal Society
1989
|
Схожі ресурси
-
THE BRITTLE-TO-DUCTILE TRANSITION IN SILICON
за авторством: Samuels, J, та інші
Опубліковано: (1988) -
BRITTLE TO DUCTILE TRANSITION IN SILICON.
за авторством: Samuels, J, та інші
Опубліковано: (1986) -
THE BRITTLE DUCTILE TRANSITION IN SILICON
за авторством: Hirsch, P, та інші
Опубліковано: (1991) -
DISLOCATION DYNAMICS AND THE BRITTLE DUCTILE TRANSITION IN PRECRACKED SILICON
за авторством: Hirsch, P, та інші
Опубліковано: (1989) -
DISLOCATION DYNAMICS AND THE BRITTLE DUCTILE TRANSITION IN PRECRACKED SILICON
за авторством: Hirsch, P, та інші
Опубліковано: (1989)