The brittle-ductile transition in silicon. II. interpretation

<p>A dynamic crack tip shielding model has been developed to describe the brittle-ductile transition (BDT) of precracked crystals in constant strain-rate tests. Dislocations are emitted from a discrete number of sources at or near the crack tip. At the BDT the dislocations are anddollar; emitt...

Mô tả đầy đủ

Chi tiết về thư mục
Những tác giả chính: Hirsch, P, Roberts, S, Samuels, J
Định dạng: Journal article
Được phát hành: Royal Society 1989

Những quyển sách tương tự