Пропуск в контексте
VuFind
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文(繁體)
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
Čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
Hrvatski
हिंदी
Հայերէն
Українська
Sámegiella
Монгол
Язык
Все поля
Заглавие
Автор
Предмет
Шифр
ISBN/ISSN
Метка
Найти
Расширенный поиск
Neutron and X-ray reflectometr...
Цитировать
Отправить по sms
Отправить на Email
Печать
Запись для экспорта
Экспорт в RefWorks
Экспорт в EndNoteWeb
Экспорт в EndNote
Постоянная ссылка
Neutron and X-ray reflectometry of interfacial systems in colloid and polymer chemistry
Библиографические подробности
Главные авторы:
Thomas, R
,
Penfold, J
Формат:
Journal article
Опубликовано:
1996
Фонды
Описание
Схожие документы
Marc-запись
Схожие документы
The origins of neutron reflectometry
по: Majkrzak, C, и др.
Опубликовано: (2010)
APPLICATIONS OF NEUTRON REFLECTOMETRY IN SURFACE SCIENCE
по: Thomas, R, и др.
Опубликовано: (1994)
DETERMINATION OF END-ADSORBED POLYMER DENSITY PROFILES BY NEUTRON REFLECTOMETRY
по: Field, J, и др.
Опубликовано: (1992)
Probing Surfactant Adsorption at the Solid-Solution Interface by Neutron Reflectometry
по: Penfold, J, и др.
Опубликовано: (2007)
A NEUTRON REFLECTOMETRY STUDY OF THE PRODUCTION OF THIN POLYPHENYLENE FILMS FROM PRECURSOR POLYMER
по: Burgess, A, и др.
Опубликовано: (1992)