Ga door naar de inhoud
VuFind
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文（繁體）
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
Čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
Hrvatski
हिंदी
Հայերէն
Українська
Sámegiella
Монгол
Taal
Alle velden
Titel
Auteur
Onderwerp
Plaatsingsnummer
ISBN/ISSN
Tag
Zoek
Geavanceerd
Neutron and X-ray reflectometr...
Citeren
SMS dit
Versturen
Afdrukken
Exporteer Record
Exporteer naar RefWorks
Exporteer naar EndNoteWeb
Exporteer naar EndNote
Permalink
Neutron and X-ray reflectometry of interfacial systems in colloid and polymer chemistry
Bibliografische gegevens
Hoofdauteurs:
Thomas, R
,
Penfold, J
Formaat:
Journal article
Gepubliceerd in:
1996
Exemplaren
Omschrijving
Gelijkaardige items
Personeel
Gelijkaardige items
The origins of neutron reflectometry
door: Majkrzak, C, et al.
Gepubliceerd in: (2010)
APPLICATIONS OF NEUTRON REFLECTOMETRY IN SURFACE SCIENCE
door: Thomas, R, et al.
Gepubliceerd in: (1994)
DETERMINATION OF END-ADSORBED POLYMER DENSITY PROFILES BY NEUTRON REFLECTOMETRY
door: Field, J, et al.
Gepubliceerd in: (1992)
Probing Surfactant Adsorption at the Solid-Solution Interface by Neutron Reflectometry
door: Penfold, J, et al.
Gepubliceerd in: (2007)
A NEUTRON REFLECTOMETRY STUDY OF THE PRODUCTION OF THIN POLYPHENYLENE FILMS FROM PRECURSOR POLYMER
door: Burgess, A, et al.
Gepubliceerd in: (1992)