QUANTITATIVE STUDY OF SOLID-STATE REACTIONS BY ATOM PROBE MICROANALYSIS
Үндсэн зохиолч: | Smith, G |
---|---|
Формат: | Journal article |
Хэл сонгох: | English |
Хэвлэсэн: |
1987
|
Ижил төстэй зүйлс
Ижил төстэй зүйлс
-
APPLICATIONS OF ATOM-PROBE MICROANALYSIS IN MATERIALS SCIENCE
-н: Miller, M, зэрэг
Хэвлэсэн: (1994) -
RECENT DEVELOPMENTS IN THE STUDY OF SEMICONDUCTORS BY ATOM PROBE MICROANALYSIS.
-н: Grovenor, C, зэрэг
Хэвлэсэн: (1985) -
TRACE-ELEMENT DETECTION AT THE ATOMIC LEVEL BY ATOM PROBE MICROANALYSIS
-н: Beaven, P, зэрэг
Хэвлэсэн: (1980) -
FIELD-ION MICROSCOPY AND ATOM PROBE MICROANALYSIS OF VANADIUM
-н: Godfrey, T, зэрэг
Хэвлэсэн: (1989) -
RECENT DEVELOPMENTS IN POSITION-SENSITIVE ATOM-PROBE MICROANALYSIS
-н: Smith, G, зэрэг
Хэвлэсэн: (1994)