تخطي إلى المحتوى
VuFind
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文(繁體)
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
Čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
Hrvatski
हिंदी
Հայերէն
Українська
Sámegiella
Монгол
اللغة
كل الحقول
العنوان
المؤلف
الموضوع
رقم الاستدعاء
ردمك/تدمد
الوسم
ابحث
بحث متقدم
X-ray diffraction contrast to...
استشهد بهذا
أرسل هذا في رسالة قصيرة
أرسل هذا بالبريد الإلكتروني
طباعة
تصدير التسجيلة
تصدير إلى RefWorks
تصدير إلى EndNoteWeb
تصدير إلى EndNote
رابط دائم
X-ray diffraction contrast tomography: a novel technique for three-dimensional grain mapping of polycrystals. I. Direct beam case
التفاصيل البيبلوغرافية
المؤلفون الرئيسيون:
Ludwig, W
,
Schmidt, S
,
Lauridsen, E
,
Poulsen, H
التنسيق:
Conference item
منشور في:
2008
المقتنيات
الوصف
مواد مشابهة
عرض للأخصائي
مواد مشابهة
X-ray diffraction contrast tomography: a novel technique for three-dimensional grain mapping of polycrystals. II. The combined case
حسب: Johnson, G, وآخرون
منشور في: (2008)
Three-dimensional x-ray diffraction microscopy : mapping polycrystals and their dynamics /
حسب: 193559 Poulsen, Henning F.
منشور في: (2004)
Three-dimensional grain mapping by x-ray diffraction contrast tomography and the use of Friedel pairs in diffraction data analysis.
حسب: Ludwig, W, وآخرون
منشور في: (2009)
X-ray coherent diffraction imaging with an objective lens: Towards three-dimensional mapping of thick polycrystals
حسب: A. F. Pedersen, وآخرون
منشور في: (2020-07-01)
Non-destructive analysis of micro texture and grain boundary character from X-ray diffraction contrast tomography
حسب: King, A, وآخرون
منشور في: (2010)