X-ray diffraction contrast tomography: a novel technique for three-dimensional grain mapping of polycrystals. I. Direct beam case

التفاصيل البيبلوغرافية
المؤلفون الرئيسيون: Ludwig, W, Schmidt, S, Lauridsen, E, Poulsen, H
التنسيق: Conference item
منشور في: 2008