Přeskočit na obsah
VuFind
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文(繁體)
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
Čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
Hrvatski
हिंदी
Հայերէն
Українська
Sámegiella
Монгол
Jazyk
Vše
Název
Autor
Téma
Signatura
ISBN/ISSN
Tag
Hledat
Pokročilé
X-ray diffraction contrast to...
Vytvořit citaci
Zaslat SMS
Poslat e-mailem
Vytisknout
Exportovat záznam
Exportovat do RefWorks
Exportovat do EndNoteWeb
Exportovat do EndNote
Trvalý odkaz
X-ray diffraction contrast tomography: a novel technique for three-dimensional grain mapping of polycrystals. I. Direct beam case
Podrobná bibliografie
Hlavní autoři:
Ludwig, W
,
Schmidt, S
,
Lauridsen, E
,
Poulsen, H
Médium:
Conference item
Vydáno:
2008
Jednotky
Popis
Podobné jednotky
UNIMARC/MARC
Podobné jednotky
X-ray diffraction contrast tomography: a novel technique for three-dimensional grain mapping of polycrystals. II. The combined case
Autor: Johnson, G, a další
Vydáno: (2008)
Three-dimensional x-ray diffraction microscopy : mapping polycrystals and their dynamics /
Autor: 193559 Poulsen, Henning F.
Vydáno: (2004)
Three-dimensional grain mapping by x-ray diffraction contrast tomography and the use of Friedel pairs in diffraction data analysis.
Autor: Ludwig, W, a další
Vydáno: (2009)
X-ray coherent diffraction imaging with an objective lens: Towards three-dimensional mapping of thick polycrystals
Autor: A. F. Pedersen, a další
Vydáno: (2020-07-01)
Non-destructive analysis of micro texture and grain boundary character from X-ray diffraction contrast tomography
Autor: King, A, a další
Vydáno: (2010)