Пропуск в контексте
VuFind
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文(繁體)
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
Čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
Hrvatski
हिंदी
Հայերէն
Українська
Sámegiella
Монгол
Язык
Все поля
Заглавие
Автор
Предмет
Шифр
ISBN/ISSN
Метка
Найти
Расширенный поиск
X-ray diffraction contrast to...
Цитировать
Отправить по sms
Отправить на Email
Печать
Запись для экспорта
Экспорт в RefWorks
Экспорт в EndNoteWeb
Экспорт в EndNote
Постоянная ссылка
X-ray diffraction contrast tomography: a novel technique for three-dimensional grain mapping of polycrystals. I. Direct beam case
Библиографические подробности
Главные авторы:
Ludwig, W
,
Schmidt, S
,
Lauridsen, E
,
Poulsen, H
Формат:
Conference item
Опубликовано:
2008
Фонды
Описание
Схожие документы
Marc-запись
Схожие документы
X-ray diffraction contrast tomography: a novel technique for three-dimensional grain mapping of polycrystals. II. The combined case
по: Johnson, G, и др.
Опубликовано: (2008)
Three-dimensional x-ray diffraction microscopy : mapping polycrystals and their dynamics /
по: 193559 Poulsen, Henning F.
Опубликовано: (2004)
Three-dimensional grain mapping by x-ray diffraction contrast tomography and the use of Friedel pairs in diffraction data analysis.
по: Ludwig, W, и др.
Опубликовано: (2009)
X-ray coherent diffraction imaging with an objective lens: Towards three-dimensional mapping of thick polycrystals
по: A. F. Pedersen, и др.
Опубликовано: (2020-07-01)
Non-destructive analysis of micro texture and grain boundary character from X-ray diffraction contrast tomography
по: King, A, и др.
Опубликовано: (2010)