$Measurement of elastic strains and small lattice rotations using electron back scatter diffraction.$

Measurement of elastic strains and small lattice rotations using electron back scatter diffraction.

A method is presented for the determination of elastic strains from electron back scatter diffraction patterns, which are obtained at high spatial resolution, from bulk specimens in a scanning electron microscope. It is estimated that the method is sensitive to strains of the order of 0.02%. Strains...

Повний опис

Бібліографічні деталі
Автор:	Wilkinson, A
Формат:	Journal article
Мова:	English
Опубліковано:	1996

Схожі ресурси

Assessment of lattice strain, rotation and dislocation content using electron back-scatter diffraction
за авторством: Wilkinson, A
Опубліковано: (2011)

Assessment of lattice strain, rotation and dislocation content using electron back-scatter diffraction
за авторством: Wilkinson, A, та інші
Опубліковано: (2011)

Strain measurement using electron back scatter diffraction
за авторством: Wilkinson, A
Опубліковано: (1998)

Measurement of residual elastic strain and lattice rotations with high resolution electron backscatter diffraction.
за авторством: Britton, T, та інші
Опубліковано: (2011)

Measurement of small misorientations using electron back scatter diffraction
за авторством: Wilkinson, A
Опубліковано: (1999)

High resolution electron backscatter diffraction measurements of elastic strain variations in the presence of larger lattice rotations.
за авторством: Britton, T, та інші
Опубліковано: (2012)

Mapping strains at the nanoscale using electron back scatter diffraction
за авторством: Wilkinson, A, та інші
Опубліковано: (2009)

Determination of elastic strain fields and geometrically necessary dislocation distributions near nanoindents using electron back scatter diffraction
за авторством: Wilkinson, A, та інші
Опубліковано: (2010)

Strain tensor mapping at the nanoscale using electron back scatter diffraction
за авторством: Wilkinson, A, та інші
Опубліковано: (2006)

Elastic strain tensor measurement using electron backscatter diffraction in the SEM.
за авторством: Dingley, D, та інші
Опубліковано: (2010)

A new method for determining small misorientations from electron back scatter diffraction patterns
за авторством: Wilkinson, A
Опубліковано: (2001)

Effect of sample thinning on strains and lattice rotations measured from Transmission Kikuchi diffraction in the SEM
за авторством: Karamched, PS, та інші
Опубліковано: (2021)

High resolution mapping of strains and rotations using electron backscatter diffraction
за авторством: Wilkinson, A, та інші
Опубліковано: (2013)

High resolution mapping of strains and rotations using electron backscatter diffraction
за авторством: Wilkinson, A, та інші
Опубліковано: (2006)

Methods for determining elastic strains from electron backscatter diffraction and electron channelling patterns
за авторством: Wilkinson, A
Опубліковано: (1997)

High resolution electron back-scatter diffraction analysis of thermally and mechanically induced strains near carbide inclusions in a superalloy
за авторством: Karamched, P, та інші
Опубліковано: (2011)

Elastic and diffractive scattering at the LHC
за авторством: V.A. Khoze, та інші
Опубліковано: (2018-09-01)

High-resolution elastic strain measurement from electron backscatter diffraction patterns: new levels of sensitivity.
за авторством: Wilkinson, A, та інші
Опубліковано: (2006)

On the state of deformation in a polycrystalline material in three-dimension: Elastic strains, lattice rotations, and deformation mechanisms
за авторством: Abdolvand, H, та інші
Опубліковано: (2018)

Statistical effects in X-ray diffraction lattice strain measurements of ferritic steel using crystal plasticity
за авторством: Erinosho, T, та інші
Опубліковано: (2018)

J-integral analysis of the elastic strain fields of ferrite deformation twins using electron backscatter diffraction
за авторством: Koko, A, та інші
Опубліковано: (2021)

Measurement of plastic strain of polycrystalline material by electron backscatter diffraction
за авторством: Kamaya, M, та інші
Опубліковано: (2005)

Strain mapping using electron backscatter diffraction
за авторством: Wilkinson, A, та інші
Опубліковано: (2009)

Computation of Burgers vectors from elastic strain and lattice rotation data
за авторством: Cloete, J, та інші
Опубліковано: (2022)

Probing local strain fields using electron diffraction in the scanning electron microscope
за авторством: Wilkinson, A
Опубліковано: (1997)

High resolution measurements of strain and tilt distributions in SiGe mesas using electron backscatter diffraction
за авторством: Wilkinson, A
Опубліковано: (2006)

High resolution measurements of strain and tilt distributions in SiGe mesas using electron backscatter diffraction
за авторством: Wilkinson, A
Опубліковано: (2006)

QUANTITATIVE DEFORMATION STUDIES USING ELECTRON BACK SCATTER PATTERNS
за авторством: Wilkinson, A, та інші
Опубліковано: (1991)

Influence of Microstructure on Synchrotron X-ray Diffraction Lattice Strain Measurement Uncertainty
за авторством: Chris A. Simpson, та інші
Опубліковано: (2021-05-01)

Crystal characteristics of fibrous calcite veins based on Electron Back Scattered Diffraction (EBSD)
за авторством: Lanquan ZHAO, та інші
Опубліковано: (2022-03-01)

Assessing the precision of strain measurements using electron backscatter diffraction--part 1: detector assessment.
за авторством: Britton, T, та інші
Опубліковано: (2013)

Assessing the precision of strain measurements using electron backscatter diffraction--part 2: experimental demonstration.
за авторством: Britton, T, та інші
Опубліковано: (2013)

Assessing the precision of strain measurements using electron backscatter diffraction - part 1: Detector assessment
за авторством: Britton, T, та інші
Опубліковано: (2013)

Assessing the precision of strain measurements using electron backscatter diffraction - Part 2: Experimental demonstration
за авторством: Britton, T, та інші
Опубліковано: (2013)

Residual elastic strain due to laser shock peening: synchrotron diffraction measurement
за авторством: Korsunsky, A, та інші
Опубліковано: (2006)

Residual elastic strain due to laser shock peening: synchrotron diffraction measurement
за авторством: Korsunsky, A, та інші
Опубліковано: (2006)

Assessment of Deformation Twinning in Cold Rolled Austenitic Stainless Steels with Electron Back Scatter Diffraction
за авторством: I. I. Ahmed, та інші
Опубліковано: (2014-06-01)

Assessment of Deformation Twinning in Cold Rolled Austenitic Stainless Steels with Electron Back Scatter Diffraction
за авторством: I. I. Ahmed, та інші
Опубліковано: (2014-06-01)

Pattern matching analysis of electron backscatter diffraction patterns for pattern centre, crystal orientation and absolute elastic strain determination – accuracy and precision assessment
за авторством: Tanaka, T, та інші
Опубліковано: (2019)

Assessment of X-ray diffraction and crystal plasticity lattice strain evolutions under biaxial loading
за авторством: Erinosho, T, та інші
Опубліковано: (2016)