Μετάβαση στο περιεχόμενο
VuFind
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文(繁體)
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
Čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
Hrvatski
हिंदी
Հայերէն
Українська
Sámegiella
Монгол
Γλώσσα
Όλα τα πεδία
Τίτλος
Συγγραφέας
Θέμα
Ταξιθετικός Αριθμός
ISBN/ISSN
Ετικέτα
Αναζήτηση
Σύνθετη
DETERMINATION OF THE NATURE OF...
Εμφάνιση παραπομπής
Αποστολή με SMS
Αποστολή με email
Εκτύπωση
Αποθήκευση
Αποθήκευση σε RefWorks
Αποθήκευση σε EndNoteWeb
Αποθήκευση σε EndNote
Μόνιμος σύνδεσμος
DETERMINATION OF THE NATURE OF STACKING-FAULT TETRAHEDRA IN ELECTRON-IRRADIATED SILVER BY HIGH-RESOLUTION STRUCTURAL IMAGING
Λεπτομέρειες βιβλιογραφικής εγγραφής
Κύριοι συγγραφείς:
Sigle, W
,
Jenkins, M
,
Hutchison, J
Μορφή:
Journal article
Έκδοση:
1988
Τεκμήρια
Περιγραφή
Παρόμοια τεκμήρια
Λεπτομερής προβολή
Παρόμοια τεκμήρια
EVIDENCE FOR STACKING-FAULT TETRAHEDRA FORMED FROM SELF-INTERSTITIALS IN ELECTRON-IRRADIATED SILVER
ανά: Hardy, G, κ.ά.
Έκδοση: (1985)
Electron microscope weak-beam imaging of stacking fault tetrahedra: observations and simulations
ανά: Jenkins, M, κ.ά.
Έκδοση: (2006)
The role of stacking fault tetrahedra on void swelling in irradiated copper
ανά: Ziang Yu, κ.ά.
Έκδοση: (2024-04-01)
Electronically decoupled stacking fault tetrahedra embedded in Au(111) films
ανά: Koen Schouteden, κ.ά.
Έκδοση: (2016-12-01)
Simple Closed Quasigeodesics on Tetrahedra
ανά: Joseph O’Rourke, κ.ά.
Έκδοση: (2022-05-01)