コンテンツを見る
VuFind
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文(繁體)
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
Čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
Hrvatski
हिंदी
Հայերէն
Українська
Sámegiella
Монгол
言語
全フィールド
タイトル
著者
主題
請求記号
ISBN/ISSN
タグ
検索
詳細検索
DETERMINATION OF THE NATURE OF...
この資料を引用
この資料をSMS送信
この資料をメール
印刷
エクスポート
エクスポート先: RefWorks
エクスポート先: EndNoteWeb
エクスポート先: EndNote
パーマネントリンク
DETERMINATION OF THE NATURE OF STACKING-FAULT TETRAHEDRA IN ELECTRON-IRRADIATED SILVER BY HIGH-RESOLUTION STRUCTURAL IMAGING
書誌詳細
主要な著者:
Sigle, W
,
Jenkins, M
,
Hutchison, J
フォーマット:
Journal article
出版事項:
1988
所蔵
その他の書誌記述
類似資料
MARC表示
類似資料
EVIDENCE FOR STACKING-FAULT TETRAHEDRA FORMED FROM SELF-INTERSTITIALS IN ELECTRON-IRRADIATED SILVER
著者:: Hardy, G, 等
出版事項: (1985)
The role of stacking fault tetrahedra on void swelling in irradiated copper
著者:: Ziang Yu, 等
出版事項: (2024-04-01)
Electron microscope weak-beam imaging of stacking fault tetrahedra: observations and simulations
著者:: Jenkins, M, 等
出版事項: (2006)
Electronically decoupled stacking fault tetrahedra embedded in Au(111) films
著者:: Koen Schouteden, 等
出版事項: (2016-12-01)
Simple Closed Quasigeodesics on Tetrahedra
著者:: Joseph O’Rourke, 等
出版事項: (2022-05-01)