Перейти до змісту
VuFind
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文（繁體）
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
Čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
Hrvatski
हिंदी
Հայերէն
Українська
Sámegiella
Монгол
Мова
Всі поля
Назва
Автор
Предмет
Шифр
ISBN/ISSN
Тег
Знайти
Розширений
MAXIMUM-ENTROPY ANALYSIS OF IN...
Цитувати
Відправити по sms
Відправити е-поштою
Друк
Експортувати запис
Екпортувати в RefWorks
Екпортувати в EndNoteWeb
Екпортувати в EndNote
Постійне посилання
MAXIMUM-ENTROPY ANALYSIS OF IN-SITU X-RAY-DIFFRACTION FROM LASER-SHOCKED CRYSTALS
Бібліографічні деталі
Автори:
Wark, J
,
Woolsey, N
Формат:
Conference item
Опубліковано:
1994
Примірники
Опис
Схожі ресурси
Службовий вигляд
Опис
Резюме:
Схожі ресурси
SIMULATED X-RAY STREAK CAMERA DATA OF IN-SITU DIFFRACTION FROM LASER-SHOCKED SINGLE-CRYSTALS
за авторством: Woolsey, N, та інші
Опубліковано: (1994)
Modeling of time resolved x-ray diffraction from laser-shocked crystals
за авторством: Woolsey, N, та інші
Опубліковано: (1997)
SUBNANOSECOND X-RAY-DIFFRACTION FROM LASER-SHOCKED CRYSTALS
за авторством: Wark, J, та інші
Опубліковано: (1989)
Time resolved x-ray diffraction from shock-compressed solids
за авторством: Wark, J, та інші
Опубліковано: (1995)
X-ray diffraction studies of laser-shocked crystals
за авторством: McGonegle, D
Опубліковано: (2016)