Anar al contingut
VuFind
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文（繁體）
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
Čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
Hrvatski
हिंदी
Հայերէն
Українська
Sámegiella
Монгол
Idioma
Tots els camps
Títol
Autor
Matèria
Signatura
ISBN/ISSN
Etiqueta
Trobar
Avançada
MAXIMUM-ENTROPY ANALYSIS OF IN...
Citar
Enviar aquest missatge de text
Enviar per correu electrònic aquest
Imprimir
Exportar registre
Exportar a RefWorks
Exportar a EndNoteWeb
Exportar a EndNote
Enllaç permanent
MAXIMUM-ENTROPY ANALYSIS OF IN-SITU X-RAY-DIFFRACTION FROM LASER-SHOCKED CRYSTALS
Dades bibliogràfiques
Autors principals:
Wark, J
,
Woolsey, N
Format:
Conference item
Publicat:
1994
Fons
Descripció
Ítems similars
Visualització del personal
Ítems similars
SIMULATED X-RAY STREAK CAMERA DATA OF IN-SITU DIFFRACTION FROM LASER-SHOCKED SINGLE-CRYSTALS
per: Woolsey, N, et al.
Publicat: (1994)
Modeling of time resolved x-ray diffraction from laser-shocked crystals
per: Woolsey, N, et al.
Publicat: (1997)
SUBNANOSECOND X-RAY-DIFFRACTION FROM LASER-SHOCKED CRYSTALS
per: Wark, J, et al.
Publicat: (1989)
Time resolved x-ray diffraction from shock-compressed solids
per: Wark, J, et al.
Publicat: (1995)
X-ray diffraction studies of laser-shocked crystals
per: McGonegle, D
Publicat: (2016)