Chuyển đến nội dung
VuFind
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文（繁體）
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
Čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
Hrvatski
हिंदी
Հայերէն
Українська
Sámegiella
Монгол
Ngôn ngữ
Tất cả các trường
Tiêu đề
Tác giả
Chủ đề
Số hiệu
số ISBN/ISSN
Nhãn
Tìm kiếm
Nâng cao
MAXIMUM-ENTROPY ANALYSIS OF IN...
Trích dẫn điều này
Văn bản này
Email này
In
Xuất bản ghi
Xuất tới RefWorks
Xuất tới EndNoteWeb
Xuất tới EndNote
Liên kết dài hạn
MAXIMUM-ENTROPY ANALYSIS OF IN-SITU X-RAY-DIFFRACTION FROM LASER-SHOCKED CRYSTALS
Chi tiết về thư mục
Những tác giả chính:
Wark, J
,
Woolsey, N
Định dạng:
Conference item
Được phát hành:
1994
Đang giữ
Miêu tả
Những quyển sách tương tự
Chế độ xem nhân viên
Những quyển sách tương tự
SIMULATED X-RAY STREAK CAMERA DATA OF IN-SITU DIFFRACTION FROM LASER-SHOCKED SINGLE-CRYSTALS
Bằng: Woolsey, N, et al.
Được phát hành: (1994)
Modeling of time resolved x-ray diffraction from laser-shocked crystals
Bằng: Woolsey, N, et al.
Được phát hành: (1997)
SUBNANOSECOND X-RAY-DIFFRACTION FROM LASER-SHOCKED CRYSTALS
Bằng: Wark, J, et al.
Được phát hành: (1989)
Time resolved x-ray diffraction from shock-compressed solids
Bằng: Wark, J, et al.
Được phát hành: (1995)
X-ray diffraction studies of laser-shocked crystals
Bằng: McGonegle, D
Được phát hành: (2016)