The properties of nitrogen and oxygen in silicon

A novel dislocation locking technique is used to study the behaviour of nitrogen and oxygen in silicon. Specimens containing well-defined arrays of dislocation half-loops are subjected to isothermal anneals of controlled duration, during which nitrogen or oxygen diffuses to the dislocations. The str...

Szczegółowa specyfikacja

Opis bibliograficzny
Główni autorzy: Murphy, J, John Douglas Murphy
Kolejni autorzy: Wilshaw, P
Format: Praca dyplomowa
Język:English
Wydane: 2006
Hasła przedmiotowe: