The properties of nitrogen and oxygen in silicon

A novel dislocation locking technique is used to study the behaviour of nitrogen and oxygen in silicon. Specimens containing well-defined arrays of dislocation half-loops are subjected to isothermal anneals of controlled duration, during which nitrogen or oxygen diffuses to the dislocations. The str...

Mô tả đầy đủ

Chi tiết về thư mục
Những tác giả chính: Murphy, J, John Douglas Murphy
Tác giả khác: Wilshaw, P
Định dạng: Luận văn
Ngôn ngữ:English
Được phát hành: 2006
Những chủ đề: