İçeriği atla
VuFind
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文（繁體）
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
Čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
Hrvatski
हिंदी
Հայերէն
Українська
Sámegiella
Монгол
Dil
Tüm Alanlar
Materyal Adı
Yazar
Konu
Yer Numarası
ISBN/ISSN
Etiket
Ara
Gelişmiş
A NEW METHOD FOR OBSERVING THE...
Alıntıla
Telefona gönder
E-posta Gönder
Yazdır
Kaydı İhraç Et
İhraç Et RefWorks
İhraç Et EndNoteWeb
İhraç Et EndNote
Kalıcı bağlantı
A NEW METHOD FOR OBSERVING THE ANISOTROPY OF BI SEGREGATION TO CU GRAIN-BOUNDARIES
Detaylı Bibliyografya
Asıl Yazarlar:
Grovenor, C
,
Rae, C
Materyal Türü:
Journal article
Dil:
English
Baskı/Yayın Bilgisi:
1981
Erişim Bilgileri
Diğer Bilgiler
Benzer Materyaller
MARC Görünümü
Benzer Materyaller
SEGREGATION TO GRAIN BOUNDARIES IN Si.
Yazar:: Grovenor, C, ve diğerleri
Baskı/Yayın Bilgisi: (1984)
AS SEGREGATION TO GRAIN-BOUNDARIES IN SI
Yazar:: Grovenor, C, ve diğerleri
Baskı/Yayın Bilgisi: (1984)
STRUCTURAL AND ELECTRICAL EFFECTS OF DOPANT SEGREGATION TO SILICON GRAIN-BOUNDARIES
Yazar:: Grovenor, C, ve diğerleri
Baskı/Yayın Bilgisi: (1985)
QUANTITATIVE NANOSIMS ANALYSIS OF GRAIN BOUNDARY SEGREGATION IN BULK SAMPLES
Yazar:: Christien, F, ve diğerleri
Baskı/Yayın Bilgisi: (2012)
EFFECT OF ARSENIC SEGREGATION ON THE ELECTRICAL-PROPERTIES OF GRAIN-BOUNDARIES IN POLYCRYSTALLINE SILICON
Yazar:: Wong, C, ve diğerleri
Baskı/Yayın Bilgisi: (1985)