Léim chuig an ábhar
VuFind
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文（繁體）
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
Čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
Hrvatski
हिंदी
Հայերէն
Українська
Sámegiella
Монгол
Teanga
Gach réimse
Teideal
Údar
Ábhar
Gairmuimhir
ISBN/ISSN
Clib
AIMSIGH
CASTA
A NEW METHOD FOR OBSERVING THE...
Luaigh é seo
Seol mar théacs é seo
Seol é seo mar r-phost
Priontáil
Easpórtáil taifead
Easpórtáil chuig RefWorks
Easpórtáil chuig EndNoteWeb
Easpórtáil chuig EndNote
Buan-nasc
Cuireadh an easpórtáil i gcrích —
A NEW METHOD FOR OBSERVING THE ANISOTROPY OF BI SEGREGATION TO CU GRAIN-BOUNDARIES
Sonraí bibleagrafaíochta
Príomhchruthaitheoirí:
Grovenor, C
,
Rae, C
Formáid:
Journal article
Teanga:
English
Foilsithe / Cruthaithe:
1981
Stoc
Cur síos
Míreanna comhchosúla
Amharc foirne
Míreanna comhchosúla
SEGREGATION TO GRAIN BOUNDARIES IN Si.
de réir: Grovenor, C, et al.
Foilsithe / Cruthaithe: (1984)
AS SEGREGATION TO GRAIN-BOUNDARIES IN SI
de réir: Grovenor, C, et al.
Foilsithe / Cruthaithe: (1984)
STRUCTURAL AND ELECTRICAL EFFECTS OF DOPANT SEGREGATION TO SILICON GRAIN-BOUNDARIES
de réir: Grovenor, C, et al.
Foilsithe / Cruthaithe: (1985)
QUANTITATIVE NANOSIMS ANALYSIS OF GRAIN BOUNDARY SEGREGATION IN BULK SAMPLES
de réir: Christien, F, et al.
Foilsithe / Cruthaithe: (2012)
EFFECT OF ARSENIC SEGREGATION ON THE ELECTRICAL-PROPERTIES OF GRAIN-BOUNDARIES IN POLYCRYSTALLINE SILICON
de réir: Wong, C, et al.
Foilsithe / Cruthaithe: (1985)