Measurement of temperature rises in the femtosecond laser pulsed three-dimensional atom probe

Measurement of temperature rises in the femtosecond laser pulsed three-dimensional atom probe

Diğer sürümleri göster (1)

A previous Letter [B. Gault et al., Appl. Phys. Lett. 86, 094101 (2005)] interpreted measurements of the field evaporative enhancement under femtosecond pulsed laser irradiation of a field emitter in terms of a direct electric field enhancement by the intrinsic field of the laser light. We show that...

Detaylı Bibliyografya
Asıl Yazarlar:	Cerezo, A, Smith, G, Clifton, P
Materyal Türü:	Journal article
Dil:	English
Baskı/Yayın Bilgisi:	American Institute of Physics 2006
Konular:	Materials Sciences Field Ion Microscopy

Benzer Materyaller

Measurement of temperature rises in the femtosecond laser pulsed three-dimensional atom probe
Yazar:: Cerezo, A, ve diğerleri
Baskı/Yayın Bilgisi: (2006)

Aspects of the performance of a femtosecond laser-pulsed 3-dimensional atom probe.
Yazar:: Cerezo, A, ve diğerleri
Baskı/Yayın Bilgisi: (2007)

Atom Probe Microscopy /
Yazar:: Gault, Baptiste author 632642, ve diğerleri
Baskı/Yayın Bilgisi: (2012)

Atom probe tomography characterization of engineering ceramics
Yazar:: Singh, J
Baskı/Yayın Bilgisi: (2021)

Study of early-stage precipitation in Al-Mg-Si(-Cu) alloys by 3D atom probe
Yazar:: Zandbergen, MW
Baskı/Yayın Bilgisi: (2008)

Atomic-scale microscopy of different materials by ultrashort THz-driven Atom Probe Tomography
Yazar:: De Tullio Matteo, ve diğerleri
Baskı/Yayın Bilgisi: (2024-01-01)

THE EFFECT OF LASER-PULSE SHAPE ON MASS RESOLUTION IN THE PULSED-LASER ATOM PROBE
Yazar:: Cerezo, A, ve diğerleri
Baskı/Yayın Bilgisi: (1987)

Atom probe tomography of irradiated zirconium alloys
Yazar:: Callow, A
Baskı/Yayın Bilgisi: (2021)

Generation of ultrashort keV Ar+ ion pulses via femtosecond laser photoionization
Yazar:: Alexander Golombek, ve diğerleri
Baskı/Yayın Bilgisi: (2021-01-01)

PULSED LASER ATOM PROBE ANALYSIS OF GAAS AND INAS
Yazar:: Cerezo, A, ve diğerleri
Baskı/Yayın Bilgisi: (1985)

PULSED LASER ATOM PROBE ANALYSIS OF SEMICONDUCTOR-MATERIALS
Yazar:: Cerezo, A, ve diğerleri
Baskı/Yayın Bilgisi: (1986)

Atom probe tomography analysis of Nb3Sn superconducting wires for fusion reactor and particle accelerator applications
Yazar:: Wheatley, L
Baskı/Yayın Bilgisi: (2023)

PULSED LASER ATOM PROBE ANALYSIS OF SEMICONDUCTOR-MATERIALS
Yazar:: Grovenor, C, ve diğerleri
Baskı/Yayın Bilgisi: (1987)

Overview: Recent progress in three-dimensional atom probe instruments and applications
Yazar:: Cerezo, A, ve diğerleri
Baskı/Yayın Bilgisi: (2007)

Overview: recent progress in three-dimensional atom probe instruments and applications.
Yazar:: Cerezo, A, ve diğerleri
Baskı/Yayın Bilgisi: (2007)

Progress in the atomic-scale analysis of materials with the three-dimensional atom probe
Yazar:: Cerezo, A, ve diğerleri
Baskı/Yayın Bilgisi: (2001)

PULSED LASER ATOM PROBE ANALYSIS OF III-V COMPOUND SEMICONDUCTORS
Yazar:: Cerezo, A, ve diğerleri
Baskı/Yayın Bilgisi: (1986)

Improvements in the mass resolution of the three-dimensional atom probe
Yazar:: Sijbrandij, S, ve diğerleri
Baskı/Yayın Bilgisi: (1996)

Field ion microscopy : principles and applications /
Yazar:: 235718 Muller, Erwin W., ve diğerleri
Baskı/Yayın Bilgisi: (1969)

PULSED LASER ATOM PROBE CHARACTERIZATION OF SILICON-CARBIDE
Yazar:: Miller, M, ve diğerleri
Baskı/Yayın Bilgisi: (1989)

Performance of an energy-compensated three-dimensional atom probe
Yazar:: Cerezo, A, ve diğerleri
Baskı/Yayın Bilgisi: (1998)

Field desorption of sesium atoms from nanostructured rhenium surface
Yazar:: D.P. Bernatskii, ve diğerleri
Baskı/Yayın Bilgisi: (2017-12-01)

Three-dimensional atom probe studies of metallic multilayers
Yazar:: Larson, D, ve diğerleri
Baskı/Yayın Bilgisi: (1999)

Nanoscale characterization of compound semiconductors using laser-pulsed atom probe tomography
Yazar:: Muller, M, ve diğerleri
Baskı/Yayın Bilgisi: (2010)

Nanoscale characterization of compound semiconductors using laser-pulsed atom probe tomography
Yazar:: Müller, M, ve diğerleri
Baskı/Yayın Bilgisi: (2010)

Single femtosecond laser pulse–induced valence state conversion in BaFCl: Sm3+ nanocrystals for low-threshold optical storage
Yazar:: Zheng Biao, ve diğerleri
Baskı/Yayın Bilgisi: (2024-06-01)

Applications of a high-resolution three dimensional atom probe
Yazar:: Smith, G, ve diğerleri
Baskı/Yayın Bilgisi: (1997)

Field emission and related topics /
Yazar:: Tien, Tzou Tsong, ve diğerleri
Baskı/Yayın Bilgisi: (1978)

Some recent advances in three dimensional atomic scale microanalysis with the atom probe (invited)
Yazar:: Cerezo, A, ve diğerleri
Baskı/Yayın Bilgisi: (1994)

Femtosecond electron beam probe of ultrafast electronics
Yazar:: Mattes Maximilian, ve diğerleri
Baskı/Yayın Bilgisi: (2024-01-01)

IMPROVEMENTS IN THE TRANSMISSION OF VOLTAGE EVAPORATION PULSES IN THE ATOM-PROBE
Yazar:: Sijbrandij, S, ve diğerleri
Baskı/Yayın Bilgisi: (1995)

Probing three-dimensional surface force fields with atomic resolution: Measurement strategies, limitations, and artifact reduction
Yazar:: Mehmet Z. Baykara, ve diğerleri
Baskı/Yayın Bilgisi: (2012-09-01)

Improvement of multilayer analyses with a three-dimensional atom probe
Yazar:: Vurpillot, F, ve diğerleri
Baskı/Yayın Bilgisi: (2004)

Influence of surface migration on the spatial resolution of pulsed laser atom probe tomography
Yazar:: Gault, B, ve diğerleri
Baskı/Yayın Bilgisi: (2010)

Corrosion and hydrogen pickup mechanisms of zirconium alloys
Yazar:: Setiadinata, SB
Baskı/Yayın Bilgisi: (2016)

Electron and microscopy and microanalysis ; principles and applications /
Yazar:: 184792 Murr, Lawrence E.
Baskı/Yayın Bilgisi: (1982)

PULSED LASER ATOM PROBE ANALYSIS OF III-V COMPOUND SEMICONDUCTOR EPILAYERS
Yazar:: Mackenzie, R, ve diğerleri
Baskı/Yayın Bilgisi: (1990)

Atomic scale characterization of buried In(x)Ga(1-x)As quantum dots using pulsed laser atom probe tomography
Yazar:: Mueller, M, ve diğerleri
Baskı/Yayın Bilgisi: (2008)

Atomic scale studies of thermally aged pressure vessel steels
Yazar:: Styman, P, ve diğerleri
Baskı/Yayın Bilgisi: (2013)

Spectrum imaging and three-dimensional atom probe studies of fine particles in a vanadium micro-alloyed steel
Yazar:: Craven, A, ve diğerleri
Baskı/Yayın Bilgisi: (2008)