Measurement of temperature rises in the femtosecond laser pulsed three-dimensional atom probe

Measurement of temperature rises in the femtosecond laser pulsed three-dimensional atom probe

Показати інші версії (1)

A previous Letter [B. Gault et al., Appl. Phys. Lett. 86, 094101 (2005)] interpreted measurements of the field evaporative enhancement under femtosecond pulsed laser irradiation of a field emitter in terms of a direct electric field enhancement by the intrinsic field of the laser light. We show that...

Повний опис

Бібліографічні деталі
Автори:	Cerezo, A, Smith, G, Clifton, P
Формат:	Journal article
Мова:	English
Опубліковано:	American Institute of Physics 2006
Предмети:	Materials Sciences Field Ion Microscopy

Схожі ресурси

Measurement of temperature rises in the femtosecond laser pulsed three-dimensional atom probe
за авторством: Cerezo, A, та інші
Опубліковано: (2006)

Aspects of the performance of a femtosecond laser-pulsed 3-dimensional atom probe.
за авторством: Cerezo, A, та інші
Опубліковано: (2007)

Atom Probe Microscopy /
за авторством: Gault, Baptiste author 632642, та інші
Опубліковано: (2012)

Atom probe tomography characterization of engineering ceramics
за авторством: Singh, J
Опубліковано: (2021)

Study of early-stage precipitation in Al-Mg-Si(-Cu) alloys by 3D atom probe
за авторством: Zandbergen, MW
Опубліковано: (2008)

Atomic-scale microscopy of different materials by ultrashort THz-driven Atom Probe Tomography
за авторством: De Tullio Matteo, та інші
Опубліковано: (2024-01-01)

THE EFFECT OF LASER-PULSE SHAPE ON MASS RESOLUTION IN THE PULSED-LASER ATOM PROBE
за авторством: Cerezo, A, та інші
Опубліковано: (1987)

Atom probe tomography of irradiated zirconium alloys
за авторством: Callow, A
Опубліковано: (2021)

Generation of ultrashort keV Ar+ ion pulses via femtosecond laser photoionization
за авторством: Alexander Golombek, та інші
Опубліковано: (2021-01-01)

PULSED LASER ATOM PROBE ANALYSIS OF GAAS AND INAS
за авторством: Cerezo, A, та інші
Опубліковано: (1985)

PULSED LASER ATOM PROBE ANALYSIS OF SEMICONDUCTOR-MATERIALS
за авторством: Cerezo, A, та інші
Опубліковано: (1986)

Atom probe tomography analysis of Nb3Sn superconducting wires for fusion reactor and particle accelerator applications
за авторством: Wheatley, L
Опубліковано: (2023)

PULSED LASER ATOM PROBE ANALYSIS OF SEMICONDUCTOR-MATERIALS
за авторством: Grovenor, C, та інші
Опубліковано: (1987)

Overview: Recent progress in three-dimensional atom probe instruments and applications
за авторством: Cerezo, A, та інші
Опубліковано: (2007)

Overview: recent progress in three-dimensional atom probe instruments and applications.
за авторством: Cerezo, A, та інші
Опубліковано: (2007)

Progress in the atomic-scale analysis of materials with the three-dimensional atom probe
за авторством: Cerezo, A, та інші
Опубліковано: (2001)

PULSED LASER ATOM PROBE ANALYSIS OF III-V COMPOUND SEMICONDUCTORS
за авторством: Cerezo, A, та інші
Опубліковано: (1986)

Improvements in the mass resolution of the three-dimensional atom probe
за авторством: Sijbrandij, S, та інші
Опубліковано: (1996)

Field ion microscopy : principles and applications /
за авторством: 235718 Muller, Erwin W., та інші
Опубліковано: (1969)

PULSED LASER ATOM PROBE CHARACTERIZATION OF SILICON-CARBIDE
за авторством: Miller, M, та інші
Опубліковано: (1989)

Performance of an energy-compensated three-dimensional atom probe
за авторством: Cerezo, A, та інші
Опубліковано: (1998)

Field desorption of sesium atoms from nanostructured rhenium surface
за авторством: D.P. Bernatskii, та інші
Опубліковано: (2017-12-01)

Three-dimensional atom probe studies of metallic multilayers
за авторством: Larson, D, та інші
Опубліковано: (1999)

Nanoscale characterization of compound semiconductors using laser-pulsed atom probe tomography
за авторством: Muller, M, та інші
Опубліковано: (2010)

Nanoscale characterization of compound semiconductors using laser-pulsed atom probe tomography
за авторством: Müller, M, та інші
Опубліковано: (2010)

Single femtosecond laser pulse–induced valence state conversion in BaFCl: Sm3+ nanocrystals for low-threshold optical storage
за авторством: Zheng Biao, та інші
Опубліковано: (2024-06-01)

Applications of a high-resolution three dimensional atom probe
за авторством: Smith, G, та інші
Опубліковано: (1997)

Field emission and related topics /
за авторством: Tien, Tzou Tsong, та інші
Опубліковано: (1978)

Some recent advances in three dimensional atomic scale microanalysis with the atom probe (invited)
за авторством: Cerezo, A, та інші
Опубліковано: (1994)

Femtosecond electron beam probe of ultrafast electronics
за авторством: Mattes Maximilian, та інші
Опубліковано: (2024-01-01)

IMPROVEMENTS IN THE TRANSMISSION OF VOLTAGE EVAPORATION PULSES IN THE ATOM-PROBE
за авторством: Sijbrandij, S, та інші
Опубліковано: (1995)

Probing three-dimensional surface force fields with atomic resolution: Measurement strategies, limitations, and artifact reduction
за авторством: Mehmet Z. Baykara, та інші
Опубліковано: (2012-09-01)

Improvement of multilayer analyses with a three-dimensional atom probe
за авторством: Vurpillot, F, та інші
Опубліковано: (2004)

Influence of surface migration on the spatial resolution of pulsed laser atom probe tomography
за авторством: Gault, B, та інші
Опубліковано: (2010)

Corrosion and hydrogen pickup mechanisms of zirconium alloys
за авторством: Setiadinata, SB
Опубліковано: (2016)

Electron and microscopy and microanalysis ; principles and applications /
за авторством: 184792 Murr, Lawrence E.
Опубліковано: (1982)

PULSED LASER ATOM PROBE ANALYSIS OF III-V COMPOUND SEMICONDUCTOR EPILAYERS
за авторством: Mackenzie, R, та інші
Опубліковано: (1990)

Atomic scale characterization of buried In(x)Ga(1-x)As quantum dots using pulsed laser atom probe tomography
за авторством: Mueller, M, та інші
Опубліковано: (2008)

Atomic scale studies of thermally aged pressure vessel steels
за авторством: Styman, P, та інші
Опубліковано: (2013)

Spectrum imaging and three-dimensional atom probe studies of fine particles in a vanadium micro-alloyed steel
за авторством: Craven, A, та інші
Опубліковано: (2008)