Стиль цитування APA (7-ме видання)

Wang, Y., Murphy, J., & Wilshaw, P. (2010). Determination of Grain Orientations in Multicrystalline Silicon by Reflectometry.

Чикаго стиль цитування (17-те видання)

Wang, Y., J. Murphy, та P. Wilshaw. Determination of Grain Orientations in Multicrystalline Silicon by Reflectometry. 2010.

Стиль цитування MLA (9-ме видання)

Wang, Y., et al. Determination of Grain Orientations in Multicrystalline Silicon by Reflectometry. 2010.