Wang, Y., Murphy, J., & Wilshaw, P. (2010). Determination of Grain Orientations in Multicrystalline Silicon by Reflectometry.
Citazione stile Chigago Style (17a edizione)Wang, Y., J. Murphy, e P. Wilshaw. Determination of Grain Orientations in Multicrystalline Silicon by Reflectometry. 2010.
Citatione MLA (9a ed.)Wang, Y., et al. Determination of Grain Orientations in Multicrystalline Silicon by Reflectometry. 2010.
Attenzione: Queste citazioni potrebbero non essere precise al 100%.