Citação norma APA

Wang, Y., Murphy, J., & Wilshaw, P. (2010). Determination of Grain Orientations in Multicrystalline Silicon by Reflectometry.

Citação norma Chicago

Wang, Y., J. Murphy, and P. Wilshaw. Determination of Grain Orientations in Multicrystalline Silicon by Reflectometry. 2010.

Citação norma MLA

Wang, Y., et al. Determination of Grain Orientations in Multicrystalline Silicon by Reflectometry. 2010.

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