Contrast in atomically resolved EF-SCEM imaging

Contrast in atomically resolved EF-SCEM imaging

Показати інші версії (1)

Energy-filtered scanning confocal electron microscopy (EF-SCEM) is a technique that uses the reduced depth of field of an aberration-corrected transmission electron microscope to provide three-dimensional (3D) compositional information. Using a silicon sample in the <110> orientation,...

Повний опис

Бібліографічні деталі
Автори:	Wang, P, D'Alfonso, A, Hashimoto, A, Morgan, A, Takeguchi, M, Mitsuishi, K, Shimojo, M, Kirkland, A, Allen, L, Nellist, P
Формат:	Journal article
Мова:	English
Опубліковано:	2013

Схожі ресурси

Contrast in atomically resolved EF-SCEM imaging.
за авторством: Wang, P, та інші
Опубліковано: (2013)

Prospects for 3D characterization of materials by aberration-corrected STEM and SCEM
за авторством: Nellist, P, та інші
Опубліковано: (2007)

Three-dimensional analysis of nanoparticles on carbon support using aberration-corrected scanning confocal electron microscopy
за авторством: Hashimoto, A, та інші
Опубліковано: (2012)

Bright-field scanning confocal electron microscopy using a double aberration-corrected transmission electron microscope.
за авторством: Wang, P, та інші
Опубліковано: (2011)

Nanoscale energy-filtered scanning confocal electron microscopy using a double-aberration-corrected transmission electron microscope.
за авторством: Wang, P, та інші
Опубліковано: (2010)

Three-Dimensional Crystal Structure Mapping by Diffractive Scanning Confocal Electron Microscopy (SCEM)
за авторством: Jones, L, та інші
Опубліковано: (2012)

Three-dimensional observation of SiO2 hollow spheres with a double-shell structure using aberration-corrected scanning confocal electron microscopy.
за авторством: Zhang, X, та інші
Опубліковано: (2012)

Three-dimensional elemental mapping of hollow Fe2O3@SiO2 mesoporous spheres using scanning confocal electron microscopy
за авторством: Wang, P, та інші
Опубліковано: (2012)

Facile preparation of graphene–graphene oxide liquid cells and their application in liquid-phase STEM imaging of Pt atoms
за авторством: Masaki Takeguchi, та інші
Опубліковано: (2024-01-01)

Image Contrast in Aberration-Corrected Scanning Confocal Electron Microscopy
за авторством: Cosgriff, E, та інші
Опубліковано: (2010)

Deterministic electron ptychography at atomic resolution
за авторством: D'Alfonso, A, та інші
Опубліковано: (2014)

Simulating atomic resolution STEM images of non-periodic samples
за авторством: Findlay, S, та інші
Опубліковано: (2008)

Observational assessment of safety in seroquel (OASIS): a specialist cohort event monitoring (SCEM) study in England
за авторством: Vicki Osborne, та інші
Опубліковано: (2020-09-01)

Atomic resolution Z-contrast imaging of ultradispersed catalysts
за авторством: Nellist, P, та інші
Опубліковано: (1997)

The Atomic Observation of the Structural Change Process in Pt Networks in Air Using Environmental Cell Scanning Transmission Electron Microscopy
за авторством: Masaki Takeguchi, та інші
Опубліковано: (2023-07-01)

Resolving strain in carbon nanotubes at the atomic level.
за авторством: Warner, J, та інші
Опубліковано: (2011)

Three-dimensional imaging using aberration-corrected scanning transmission and confocal electron microscopy
за авторством: Cosgriff, E, та інші
Опубліковано: (2008)

Three-dimensional imaging in double aberration-corrected scanning confocal electron microscopy, part I: elastic scattering.
за авторством: Cosgriff, E, та інші
Опубліковано: (2008)

Three-dimensional imaging in double aberration-corrected scanning confocal electron microscopt, Part I: elastic scattering
за авторством: Cosgriff, E, та інші
Опубліковано: (2008)

I-SCEM (Indonesia Song Culture Education Mobile) Sebagai Media Pembelajaran Pengenalan Lagu Daerah Indonesia
за авторством: Fendi Nur Kreswanto
Опубліковано: (2018-09-01)

Probe integrated scattering cross sections in the analysis of atomic resolution HAADF STEM images.
за авторством: E, H, та інші
Опубліковано: (2013)

Aberration measurement using the Ronchigram contrast transfer function.
за авторством: Lupini, A, та інші
Опубліковано: (2010)

Three-dimensional imaging in double aberration-corrected scanning confocal electron microscopy, part II: inelastic scattering.
за авторством: D'Alfonso, A, та інші
Опубліковано: (2008)

Three-dimensional imaging and analysis by optical sectioning in the aberration-corrected scanning transmission and scanning confocal electron microscopes
за авторством: Nellist, P, та інші
Опубліковано: (2008)

Depth sectioning using electron energy loss spectroscopy
за авторством: D'Alfonso, A, та інші
Опубліковано: (2008)

Surface states on NiO (100) and the origin of the contrast reversal in atomically resolved scanning tunneling microscope images
за авторством: Dudarev, S, та інші
Опубліковано: (1997)

Fast deterministic single-exposure coherent diffractive imaging at sub-Angstrom resolution
за авторством: Morgan, A, та інші
Опубліковано: (2013)

Scanning confocal electron microscopy in a double aberration corrected transmission electron microscope
за авторством: Nellist, P, та інші
Опубліковано: (2008)

Efficient phase contrast imaging in STEM using a pixelated detector. Part 1: Experimental demonstration at atomic resolution.
за авторством: Pennycook, T, та інші
Опубліковано: (2014)

Theoretical interpretation of electron energy-loss spectroscopic images
за авторством: Allen, L, та інші
Опубліковано: (2008)

Single atom detection from low contrast-to-noise ratio electron microscopy images
за авторством: Fatermans, J, та інші
Опубліковано: (2018)

Direct observation of depth-dependent atomic displacements associated with dislocations in gallium nitride.
за авторством: Lozano, J, та інші
Опубліковано: (2014)

Benefits of peritoneal ultrafiltration in HFpEF and HFrEF patients
за авторством: Leonie Grossekettler, та інші
Опубліковано: (2020-05-01)

Atom resolved surface reactions : nanocatalysis /
за авторством: Davies, P. R. (Philip Rosser), 1964-, та інші
Опубліковано: (2007)

Indirect Super Resolved Microscopy in the TEM.
за авторством: Kirkland, A
Опубліковано: (1999)

Quantitative techniques for aberration corrected HAADF STEM of nano-materials
за авторством: E, H, та інші
Опубліковано: (2012)

Rapid estimation of catalyst nanoparticle morphology and atomic-coordination by high-resolution Z-contrast electron microscopy.
за авторством: Jones, L, та інші
Опубліковано: (2014)

Mortality and Morbidity in HFrEF, HFmrEF, and HFpEF Patients with Diabetes in the Middle East
за авторством: Mohammed Al-Jarallah, та інші
Опубліковано: (2020-01-01)

Number-resolved preparation of mesoscopic atomic ensembles
за авторством: A Hüper, та інші
Опубліковано: (2021-01-01)

Three-dimensional atomic models from a single projection using Z-contrast imaging: verification by electron tomography and opportunities.
за авторством: De Backer, A, та інші
Опубліковано: (2017)