CHEMICAL MICROANALYSIS OF SEMICONDUCTOR HETEROSTRUCTURES BY THICKNESS FRINGE IMAGING

অনুরূপ উপাদানগুলি

• DISLOCATION GEOMETRIES IN SEMICONDUCTORS AND IN SEMICONDUCTOR HETEROSTRUCTURES
  অনুযায়ী: Cockayne, D, অন্যান্য
  প্রকাশিত: (1991)
• LATTICE FRINGE IMAGING OF MODULATED STRUCTURES
  অনুযায়ী: Cockayne, D, অন্যান্য
  প্রকাশিত: (1981)
• RECENT DEVELOPMENTS IN THE STUDY OF SEMICONDUCTORS BY ATOM PROBE MICROANALYSIS.
  অনুযায়ী: Grovenor, C, অন্যান্য
  প্রকাশিত: (1985)
• Limitations on the s-state approach to the interpretation of sub-angstrom resolution electron microscope images and microanalysis.
  অনুযায়ী: Anstis, G, অন্যান্য
  প্রকাশিত: (2003)
• CRITICAL THICKNESS DETERMINATION OF INXGA1-XAS/GAAS STRAINED-LAYER SYSTEM BY TRANSMISSION ELECTRON-MICROSCOPY
  অনুযায়ী: Zou, J, অন্যান্য
  প্রকাশিত: (1991)