CHEMICAL MICROANALYSIS OF SEMICONDUCTOR HETEROSTRUCTURES BY THICKNESS FRINGE IMAGING

Նմանատիպ նյութեր

• DISLOCATION GEOMETRIES IN SEMICONDUCTORS AND IN SEMICONDUCTOR HETEROSTRUCTURES
  ‌: Cockayne, D, և այլն
  Հրապարակվել է: (1991)
• LATTICE FRINGE IMAGING OF MODULATED STRUCTURES
  ‌: Cockayne, D, և այլն
  Հրապարակվել է: (1981)
• RECENT DEVELOPMENTS IN THE STUDY OF SEMICONDUCTORS BY ATOM PROBE MICROANALYSIS.
  ‌: Grovenor, C, և այլն
  Հրապարակվել է: (1985)
• Limitations on the s-state approach to the interpretation of sub-angstrom resolution electron microscope images and microanalysis.
  ‌: Anstis, G, և այլն
  Հրապարակվել է: (2003)
• CRITICAL THICKNESS DETERMINATION OF INXGA1-XAS/GAAS STRAINED-LAYER SYSTEM BY TRANSMISSION ELECTRON-MICROSCOPY
  ‌: Zou, J, և այլն
  Հրապարակվել է: (1991)