Skip to content
VuFind
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文(繁體)
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
Čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
Hrvatski
हिंदी
Հայերէն
Українська
Sámegiella
Монгол
Sprog
Alle Felter
Titel
Forfatter
Fag
Klassifikationsnummer
ISBN/ISSN
Tag
Find
Udvidet
Electrical and structural anal...
Citér dette
Stav dette
Email dette
Udskriv
Eksportér post
Eksportér til RefWorks
Eksportér til EndNoteWeb
Eksportér til EndNote
Permanent link
Electrical and structural analysis of high-dose Si implantation in GaN
Bibliografiske detaljer
Main Authors:
Zolper, J
,
Tan, H
,
Williams, J
,
Zou, J
,
Cockayne, D
,
Pearton, S
,
Crawford, M
,
Karlicek, R
Format:
Journal article
Udgivet:
1997
Beholdninger
Beskrivelse
Lignende værker
Medarbejdervisning
Lignende værker
TEM investigations of Si ion-implanted GaN
af: Zou, J, et al.
Udgivet: (1998)
Damage to epitaxial GaN layers by silicon implantation
af: Tan, H, et al.
Udgivet: (1996)
Ion implantation processing of GaN epitaxial layers
af: Tan, H, et al.
Udgivet: (1996)
Annealing of ion implanted gallium nitride
af: Tan, H, et al.
Udgivet: (1998)
AlGaN/GaN on SiC Devices without a GaN Buffer Layer: Electrical and Noise Characteristics
af: Justinas Jorudas, et al.
Udgivet: (2020-12-01)