Electrical and structural analysis of high-dose Si implantation in GaN

Մատենագիտական մանրամասներ
Հիմնական հեղինակներ:	Zolper, J, Tan, H, Williams, J, Zou, J, Cockayne, D, Pearton, S, Crawford, M, Karlicek, R
Ձևաչափ:	Journal article
Հրապարակվել է:	1997

Նմանատիպ նյութեր