Electrical and structural analysis of high-dose Si implantation in GaN

Bibliografiska uppgifter
Huvudupphovsmän:	Zolper, J, Tan, H, Williams, J, Zou, J, Cockayne, D, Pearton, S, Crawford, M, Karlicek, R
Materialtyp:	Journal article
Publicerad:	1997

Liknande verk