Electrical and structural analysis of high-dose Si implantation in GaN

Бібліографічні деталі
Автори: Zolper, J, Tan, H, Williams, J, Zou, J, Cockayne, D, Pearton, S, Crawford, M, Karlicek, R
Формат: Journal article
Опубліковано: 1997

Схожі ресурси