Electrical and structural analysis of high-dose Si implantation in GaN

Chi tiết về thư mục
Những tác giả chính: Zolper, J, Tan, H, Williams, J, Zou, J, Cockayne, D, Pearton, S, Crawford, M, Karlicek, R
Định dạng: Journal article
Được phát hành: 1997

Những quyển sách tương tự