Electrical and structural analysis of high-dose Si implantation in GaN

Electrical and structural analysis of high-dose Si implantation in GaN

מידע ביבליוגרפי
Main Authors: Zolper, J, Tan, H, Williams, J, Zou, J, Cockayne, D, Pearton, S, Crawford, M, Karlicek, R
פורמט: Journal article
יצא לאור: 1997

פריטים דומים