FIELD-EMISSION AND ATOM-PROBE FIELD-ION MICROSCOPE STUDIES OF PALLADIUM SILICIDE COATED SILICON EMITTERS

FIELD-EMISSION AND ATOM-PROBE FIELD-ION MICROSCOPE STUDIES OF PALLADIUM SILICIDE COATED SILICON EMITTERS

عرض إصدارات أخرى (1)

التفاصيل البيبلوغرافية
المؤلفون الرئيسيون:	King, R, Mackenzie, R, Smith, G, Cade, N, Vide, S
التنسيق:	Conference item
منشور في:	1994

مواد مشابهة

FIELD-EMISSION AND ATOM-PROBE FIELD-ION MICROSCOPE STUDIES OF PALLADIUM-SILICIDE-COATED SILICON EMITTERS
حسب: King, R, وآخرون
منشور في: (1995)

ATOM-PROBE FIELD-ION MICROSCOPE STUDIES OF PALLADIUM SILICIDE ON SILICON
حسب: King, R, وآخرون
منشور في: (1995)

FIELD-EMISSION AND ATOM-PROBE FIELD-ION MICROSCOPE ANALYSIS OF GRIDDED SILICON FIELD EMITTERS
حسب: Huang, M, وآخرون
منشور في: (1994)

ATOM-PROBE ANALYSIS AND FIELD-EMISSION STUDIES OF SILICON
حسب: King, R, وآخرون
منشور في: (1994)

STUDIES OF POROUS SILICON FIELD EMITTERS
حسب: Boswell, E, وآخرون
منشور في: (1994)

FIELD-ION MICROSCOPE ATOM PROBE STUDIES OF METALLIC GLASSES
حسب: Bhatti, A, وآخرون
منشور في: (1985)

Polycrystalline silicon field emitters
حسب: Boswell, E, وآخرون
منشور في: (1995)

Polycrystalline silicon field emitters
حسب: Boswell, E, وآخرون
منشور في: (1996)

Use of coated silicon field emitters as neutralisers for fundamental physics space missions
حسب: Aplin, K, وآخرون
منشور في: (2011)

Use of coated silicon field emitters as neutralisers for fundamental physics space missions
حسب: Aplin, K, وآخرون
منشور في: (2011)

STUDIES OF POROUS SILICON FIELD EMITTERS
حسب: Boswell, E, وآخرون
منشور في: (1995)

Fabrication of gated polycrystalline silicon field emitters
حسب: Huq, SE, وآخرون
منشور في: (1996)

AIN coatings on silicon field emitters and oxidised gates to enhance reliability for space applications
حسب: Wang, L, وآخرون
منشور في: (2004)

Silicon and silicide nanowires : applications, fabrication, and properties /
حسب: Huang, Yu, editor, وآخرون
منشور في: (2014)

CHARACTERIZATION OF GRIDDED FIELD EMITTERS
حسب: Huang, M, وآخرون
منشور في: (1994)

Anodisation of gridded silicon field emitter arrays
حسب: Huang, M, وآخرون
منشور في: (1997)

Characterisation of porous silicon field emitter properties
حسب: Boswell, E, وآخرون
منشور في: (1995)

Characterization of porous silicon field emitter properties
حسب: Boswell, E, وآخرون
منشور في: (1996)

ULTRA-HIGH-RESOLUTION CHEMICAL-ANALYSIS BY FIELD-ION MICROSCOPY, ATOM PROBE AND POSITION-SENSITIVE ATOM-PROBE TECHNIQUES
حسب: Grovenor, C, وآخرون
منشور في: (1992)

FIELD-ION MICROSCOPY AND ATOM PROBE MICROANALYSIS OF VANADIUM
حسب: Godfrey, T, وآخرون
منشور في: (1989)

FIELD DESORPTION MICROSCOPY OF CARBON-COATED FIELD ELECTRON EMITTERS
حسب: D.P. Bernatskii, وآخرون
منشور في: (2021-12-01)

AN ATOM PROBE STUDY OF THE ANOMALOUS FIELD EVAPORATION OF ALLOYS CONTAINING SILICON
حسب: Miller, M, وآخرون
منشور في: (1981)

Erbium silicided schottky source/drain silicon nanowire N-metal–oxide–semiconductor field-effect transistors
حسب: Tan, Eu Jin, وآخرون
منشور في: (2013)

Transmission electron microscope studies of emitters of silicon bipolar transistors
حسب: Gold, D, وآخرون
منشور في: (1989)

Enhanced field emission from polysilicon emitters using porous silicon
حسب: Pullen, SE, وآخرون
منشور في: (1996)

Modelling of the field emission microtriode with emitter covered with porous silicon
حسب: Nicolaescu, D, وآخرون
منشور في: (1996)

Microfabrication and characterization of gridded polycrystalline silicon field emitter devices
حسب: Huq, SE, وآخرون
منشور في: (1998)

Reliability tests of gated silicon field emitters for use in space
حسب: Aplin, K, وآخرون
منشور في: (2004)

Microfabrication and characterisation of gridded polycrystalline silicon field emitter devices
حسب: Huq, SE, وآخرون
منشور في: (1997)

Study of Silicide Formation in Large Diameter Monocrystalline Silicon
حسب: Abdugafur T. Mamadalimov, وآخرون
منشور في: (2024-06-01)

Properties of “Higher Manganese Silicide-Silicon” Heterostructure
حسب: Kobiljon K. ugli Kurbonaliev, وآخرون
منشور في: (2023-09-01)

Highly scaled silicon field emitter arrays with integrated silicon nanowire current limiters
حسب: Guerrera, Stephen A. (Stephen Angelo)
منشور في: (2016)

FIELD-ION MICROSCOPE ATOM-PROBE ANALYSIS OF THE EFFECT OF RRA HEAT-TREATMENT ON THE MATRIX STRENGTHENING PRECIPITATES IN ALLOY AL-7150
حسب: Warren, P, وآخرون
منشور في: (1992)

Investigation of fabrication uniformity and emission reliability of silicon field emitters for use in space
حسب: Wang, L, وآخرون
منشور في: (2006)

Three-dimensional atomic mapping of ligands on palladium nanoparticles by atom probe tomography
حسب: Kyuseon Jang, وآخرون
منشور في: (2021-07-01)

Simulation Modelling of Silicon Gated Field Emitter Based Electronic Circuits
حسب: Hay, Robert, وآخرون
منشور في: (2023)

Residual gas effects on the emission characteristics of silicon field emitter arrays
حسب: Gilkes, M, وآخرون
منشور في: (2000)

Simulation Modelling of Silicon Gated Field Emitter Based Electronic Circuits
حسب: Robert Hay, وآخرون
منشور في: (2023-11-01)

FIELD-ION MICROSCOPY AND ATOM PROBE MICROANALYSIS OF SEMICONDUCTOR-MATERIALS
حسب: Grovenor, C, وآخرون
منشور في: (1983)

Nanoscale Microstructural Analyses by Atom Probe Field Ion Microscopy
حسب: Hono, K., وآخرون
منشور في: (1998-01-01)