Impact of laser pulsing on the reconstruction in an atom probe tomography.

Impact of laser pulsing on the reconstruction in an atom probe tomography.

The implementation of fast pulsed laser has significantly improved the performance of the atom probe technique by enabling near-atomic-scale three-dimensional analysis of poorly conducting materials. This has broadened the range of applications for the atom probe, addressing a major limitation of th...

Detaylı Bibliyografya
Asıl Yazarlar:	Gault, B, La Fontaine, A, Moody, M, Ringer, S, Marquis, E
Materyal Türü:	Journal article
Dil:	English
Baskı/Yayın Bilgisi:	2010

Benzer Materyaller

Influence of surface migration on the spatial resolution of pulsed laser atom probe tomography
Yazar:: Gault, B, ve diğerleri
Baskı/Yayın Bilgisi: (2010)

Estimation of the reconstruction parameters for atom probe tomography
Yazar:: Gault, B, ve diğerleri
Baskı/Yayın Bilgisi: (2008)

Influence of the wavelength on the spatial resolution of pulsed-laser atom probe
Yazar:: Gault, B, ve diğerleri
Baskı/Yayın Bilgisi: (2011)

Spatial resolution in atom probe tomography.
Yazar:: Gault, B, ve diğerleri
Baskı/Yayın Bilgisi: (2010)

Advances in the reconstruction of atom probe tomography data.
Yazar:: Gault, B, ve diğerleri
Baskı/Yayın Bilgisi: (2011)

Dynamic reconstruction for atom probe tomography.
Yazar:: Gault, B, ve diğerleri
Baskı/Yayın Bilgisi: (2011)

Advances in the calibration of atom probe tomographic reconstruction
Yazar:: Gault, B, ve diğerleri
Baskı/Yayın Bilgisi: (2009)

Tomographic Reconstruction in Atom Probe Microscopy: Past, Present ... Future?
Yazar:: Gault, B, ve diğerleri
Baskı/Yayın Bilgisi: (2009)

Applications of spatial distribution maps for advanced atom probe reconstruction and data analysis
Yazar:: Moody, M, ve diğerleri
Baskı/Yayın Bilgisi: (2009)

Atom probe crystallography
Yazar:: Gault, B, ve diğerleri
Baskı/Yayın Bilgisi: (2012)

Accuracy of pulsed laser atom probe tomography for compound semiconductor analysis
Yazar:: Mueller, M, ve diğerleri
Baskı/Yayın Bilgisi: (2011)

Qualification of the tomographic reconstruction in atom probe by advanced spatial distribution map techniques.
Yazar:: Moody, M, ve diğerleri
Baskı/Yayın Bilgisi: (2009)

Compositional nonuniformities in pulsed laser atom probe tomography analysis of compound semiconductors
Yazar:: Mueller, M, ve diğerleri
Baskı/Yayın Bilgisi: (2012)

Atom Probe Tomography at The University of Sydney
Yazar:: Gault, B, ve diğerleri
Baskı/Yayın Bilgisi: (2008)

On the understanding of the microscopic origin of the properties of diluted magnetic semiconductors by atom probe tomography
Yazar:: Zheng, R, ve diğerleri
Baskı/Yayın Bilgisi: (2009)

Lattice rectification in atom probe tomography: toward true three-dimensional atomic microscopy.
Yazar:: Moody, M, ve diğerleri
Baskı/Yayın Bilgisi: (2011)

Spatial decomposition of molecular ions within 3D atom probe reconstructions.
Yazar:: Breen, A, ve diğerleri
Baskı/Yayın Bilgisi: (2013)

Restoring the lattice of Si-based atom probe reconstructions for enhanced information on dopant positioning.
Yazar:: Breen, A, ve diğerleri
Baskı/Yayın Bilgisi: (2015)

Introduction: Special issue on atom probe tomography
Yazar:: Ringer, S, ve diğerleri
Baskı/Yayın Bilgisi: (2007)

Estimating the physical cluster-size distribution within materials using atom-probe.
Yazar:: Stephenson, LT, ve diğerleri
Baskı/Yayın Bilgisi: (2010)

Estimating the physical cluster-size distribution within materials using atom-probe.
Yazar:: Stephenson, LT, ve diğerleri
Baskı/Yayın Bilgisi: (2011)

Interfacial chemistry in an InAs/GaSb superlattice studied by pulsed laser atom probe tomography
Yazar:: Mueller, M, ve diğerleri
Baskı/Yayın Bilgisi: (2012)

Contingency table techniques for three dimensional atom probe tomography.
Yazar:: Moody, M, ve diğerleri
Baskı/Yayın Bilgisi: (2007)

Origin of the spatial resolution in atom probe microscopy
Yazar:: Gault, B, ve diğerleri
Baskı/Yayın Bilgisi: (2009)

Atom probe crystallography: Atomic-scale 3-D orientation mapping
Yazar:: Araullo-Peters, V, ve diğerleri
Baskı/Yayın Bilgisi: (2012)

Atom probe crystallography: characterization of grain boundary orientation relationships in nanocrystalline aluminium.
Yazar:: Moody, M, ve diğerleri
Baskı/Yayın Bilgisi: (2011)

Quantitative binomial distribution analyses of nanoscale like-solute atom clustering and segregation in atom probe tomography data.
Yazar:: Moody, M, ve diğerleri
Baskı/Yayın Bilgisi: (2008)

Towards model-driven reconstruction in atom probe tomography
Yazar:: Fletcher, C, ve diğerleri
Baskı/Yayın Bilgisi: (2020)

Challenges Associated with the Characterisation of Nanocrystalline Materials using Atom Probe Tomography
Yazar:: Tang, F, ve diğerleri
Baskı/Yayın Bilgisi: (2010)

Phase separation in thick InGaN layers - A quantitative, nanoscale study by pulsed laser atom probe tomography
Yazar:: Mueller, M, ve diğerleri
Baskı/Yayın Bilgisi: (2012)

Atom Probe Microscopy /
Yazar:: Gault, Baptiste author 632642, ve diğerleri
Baskı/Yayın Bilgisi: (2012)

Overcoming challenges in the study of nitrided microalloyed steels using atom probe.
Yazar:: Xie, K, ve diğerleri
Baskı/Yayın Bilgisi: (2012)

Reflections on the analysis of interfaces and grain boundaries by atom probe tomography
Yazar:: Jenkins, BM, ve diğerleri
Baskı/Yayın Bilgisi: (2020)

Automated calibration of model-driven reconstructions in atom probe tomography
Yazar:: Fletcher, C, ve diğerleri
Baskı/Yayın Bilgisi: (2022)

Quantitative analysis of carbon in cementite using pulsed laser atom probe.
Yazar:: Kitaguchi, H, ve diğerleri
Baskı/Yayın Bilgisi: (2014)

New techniques for the analysis of fine-scaled clustering phenomena within atom probe tomography (APT) data.
Yazar:: Stephenson, LT, ve diğerleri
Baskı/Yayın Bilgisi: (2007)

Theory of solute clustering in materials for atom probe
Yazar:: Stephenson, LT, ve diğerleri
Baskı/Yayın Bilgisi: (2011)

Statistical tools for the local electrode atom probe
Yazar:: Moody, M, ve diğerleri
Baskı/Yayın Bilgisi: (2006)

Nanoscale characterization of compound semiconductors using laser-pulsed atom probe tomography
Yazar:: Muller, M, ve diğerleri
Baskı/Yayın Bilgisi: (2010)

Nanoscale characterization of compound semiconductors using laser-pulsed atom probe tomography
Yazar:: Müller, M, ve diğerleri
Baskı/Yayın Bilgisi: (2010)