Erratum: A study of (111) oriented epitaxial thin films of In 2O3 on cubic Y-doped ZrO2 by synchrotron based x-ray diffraction (Journal of Materials Research (2012) 27 (2257-2264) DOI: 10.1557/jmr.2012.162)

Chi tiết về thư mục
Những tác giả chính: Regoutz, A, Zhang, K, Egdell, R, Wermeille, D, Cowley, R
Định dạng: Journal article
Ngôn ngữ:English
Được phát hành: 2012