Erratum: A study of (111) oriented epitaxial thin films of In 2O3 on cubic Y-doped ZrO2 by synchrotron based x-ray diffraction (Journal of Materials Research (2012) 27 (2257-2264) DOI: 10.1557/jmr.2012.162)
Những tác giả chính: | , , , , |
---|---|
Định dạng: | Journal article |
Ngôn ngữ: | English |
Được phát hành: |
2012
|