Focused ion-beam milling for field-ion specimen preparation: preliminary investigations

Focused ion-beam milling for field-ion specimen preparation: preliminary investigations

Chi tiết về thư mục
Những tác giả chính:	Larson, D, Foord, D, Petford-Long, A, Anthony, T, Rozdilsky, I, Cerezo, A, Smith, G
Định dạng:	Journal article
Được phát hành:	1998

Những quyển sách tương tự

Field-ion specimen preparation using focused ion-beam milling
Bằng: Larson, D, et al.
Được phát hành: (1999)

Focused ion-beam specimen preparation for atom probe field-ion microscopy characterization of multilayer film structures
Bằng: Larson, D, et al.
Được phát hành: (1999)

Sharpening of field-ion specimens and positioning of features of interest by ion-beam milling
Bằng: Larson, D, et al.
Được phát hành: (2000)

Broad ion beam milling of focused ion beam prepared transmission electron microscopy cross-section specimens for high resolution electron microscopy using silicon support membranes
Bằng: Langford, R, et al.
Được phát hành: (2001)

Preparation of site specific transmission electron microscopy plan-view specimens using a focused ion beam system
Bằng: Langford, R, et al.
Được phát hành: (2001)

Preparation of transmission electron microscopy cross-section specimens of crack tips using focused ion beam milling
Bằng: Huang, Y, et al.
Được phát hành: (2002)

Preparation of transmission electron microscopy cross-section specimens of crack tips using focused ion beam milling.
Bằng: Huang, Y, et al.
Được phát hành: (2002)

Three-dimensional atom probe field-ion microscopy observation of Cu/Co multilayer film structures
Bằng: Larson, D, et al.
Được phát hành: (1998)

An in-situ approach for preparing atom probe tomography specimens by xenon plasma-focused ion beam
Bằng: Halpin, J, et al.
Được phát hành: (2019)

INSITU ION MILLING OF FIELD-ION SPECIMENS USING A LIQUID-METAL ION-SOURCE
Bằng: Waugh, A, et al.
Được phát hành: (1984)

FRACTURE OF FIELD-ION MICROSCOPE SPECIMENS
Bằng: Wilkes, T, et al.
Được phát hành: (1972)

Focused ion beam induced deposition of copper
Bằng: Della Ratta, Anthony D. (Anthony David)
Được phát hành: (2005)

Self-organized amorphous material in silicon(001) by focused ion beam (FIB) system
Bằng: Huang, Y, et al.
Được phát hành: (2005)

Focused Ion Beam Microfabrication
Bằng: Melngailis, John, et al.
Được phát hành: (2010)

Focused Ion Beam Microfabrication
Bằng: Melngailis, John, et al.
Được phát hành: (2010)

Preparation of site specific transmission electron microscopy plan-view specimens using a focused ion beam system
Bằng: Langford, R, et al.
Được phát hành: (2001)

Focused Ion Beam Fabrication
Bằng: Melngailis, John, et al.
Được phát hành: (2010)

Focused Ion Beam Fabrication
Bằng: Lezec, Henri J., et al.
Được phát hành: (2010)

Focused Ion Beam Fabrication
Bằng: Melngailis, John, et al.
Được phát hành: (2010)

Focused Ion Beam Fabrication
Bằng: Melngailis, John, et al.
Được phát hành: (2010)

Focused Ion Beam Fabrication
Bằng: Musil, Christian, et al.
Được phát hành: (2010)

Focused Ion Beam Fabrication
Bằng: Melngailis, John, et al.
Được phát hành: (2010)

Fabrication of 3D microstructures using focused ion beam milling
Bằng: Loo, Yee Wei.
Được phát hành: (2008)

Focused Ion Beam Fabrication
Bằng: Melngailis, John, et al.
Được phát hành: (2010)

Focused ion beam fabrication of boron-doped diamond ultramicroelectrodes.
Bằng: Hu, J, et al.
Được phát hành: (2009)

Nanoscale residual stress depth profiling by focused ion beam milling and eigenstrain analysis
Bằng: Korsunsky, A, et al.
Được phát hành: (2018)

Generalised residual stress depth profiling at the nanoscale using focused ion beam milling
Bằng: Salvati, E, et al.
Được phát hành: (2019)

Xenon plasma focused ion beam lamella fabrication on high-pressure frozen specimens for structural cell biology
Bằng: Berger, C, et al.
Được phát hành: (2025)

Characterization of ionic liquid ion sources for focused ion beam applications
Bằng: Perez Martinez, Carla S. (Carla Sofia)
Được phát hành: (2013)

A review of focused ion beam sputtering
Bằng: Ali, Mohammad Yeakub, et al.
Được phát hành: (2010)

Focused ion beam assisted deposition of gold
Bằng: Shedd, Gordon M.
Được phát hành: (2005)

Focused ion beam systems : basics and applications /
Bằng: Yao, Nan
Được phát hành: (2007)

Focused ion beam four-slot milling for Poisson's ratio and residual stress evaluation at the micron scale
Bằng: Sebastiani, M, et al.
Được phát hành: (2014)

Focused ion beam four-slot milling for Poisson's ratio and residual stress evaluation at the micron scale
Bằng: Sebastiani, M, et al.
Được phát hành: (2014)

Optical cavity efficacy and lasing of focused ion beam milled GaN/InGaN micropillars
Bằng: El-Ella, H, et al.
Được phát hành: (2012)

Laser linking of metal interconnect : process considerations and failure analysis using focused ion beam milling
Bằng: Rasera, Roy L. (Roy Louis)
Được phát hành: (2006)

Digital Image Correlation for Elastic Strain Evaluation during Focused Ion Beam Ring-Core Milling
Bằng: Uzun, F, et al.
Được phát hành: (2024)

Fabrication of Bio-MEMS Nanostructure by focused ion beam
Bằng: Ali, Mohammad Yeakub, et al.
Được phát hành: (2010)

Investigation of Microholes Produced by Focused Ion Beam Micromachining
Bằng: Mohd. Fuad, Nurul Hajar, et al.
Được phát hành: (2010)

Investigation of microholes produced by focused ion beam micromachining
Bằng: Mohd Fuad, Nurul Hajar, et al.
Được phát hành: (2011)